静态CMOS电路桥接故障可测性研究

IDDQ测试方法最适合CMOS电路桥接故障的测试 ,给出CMOS电路IDDQ测试的几个基本概念 ,探讨了桥接故障IDDQ可测性条件 ,从理论上证明了静态CMOS电路线结点桥接故障的IDDQ可测性 .

基于CMOS电路的序列信号检测器的设计

序列信号检测器以其从串行数字信号流中识别出指定序列的功能为特色,被广泛应用在诸多技术领域。为进一步提高其电路的开关速度和可靠性、降低电路的静态功耗,采用模块化、层次化的设计思想,利用集成电路设计软件Tanner_Pro中的S-edit设计一款"1111"序列信号检测器。采用静态CMOS逻辑门结构来实现器件功能,并用T-spice软件进行仿真验证。仿真结果表明,所设计的"1111"序列信号检测器,能够准确地在串行输入信号流中识别出"1111"序列,满足设计预期。

数据加密标准密码系统差分功耗分析攻击

为揭示密码系统运行时功耗所导致的信息泄漏,分析了静态CMOS门数据功耗相关性,介绍了以AT89C52单片机实现的数据加密标准(DES)密码系统为目标的差分功耗分析(DPA)攻击的设计与实现。提出了寄存器中静态CMOS门功耗模型,解释了DPA中选择函数D是如何将功耗曲线分入两个具有不同功耗特征的集合,使得由数据推断功耗和由功耗推断数据的思路更加清晰。DPA攻击获得了DES第16轮加密的48位子密钥。由此可知由于CMOS门数据功耗相关性,未加防护措施的DES密码系统终将难以抵御DPA的攻击。

对WKBCI型四合一微机控制台误动的研究及技术改进

针对WKBCI型四合一微机控制台在运行过程中发生多台断路器同时跳闸的现象 ,从控制电路原理上进行了深入的剖析 ,找到了问题的症结所在 ,提出了一套可行的解决方案 ,从根本上解决了原设计所存在的问题 ,提高了装置的可靠性 .

高可靠器件电参数测试覆盖性研究

高可靠器件广泛应用于航空、航天等军用领域,由于使用环境恶劣,性能和可靠性要求更高。但由于器件规定的项目(参数)往往不全,测试条件不能覆盖全部使用状态,经常引起整机质量问题。本文从测试项目、测试条件和测试方法3个方面,以实例分析了高可靠半导体器件电参数测试存在的问题,研究了提高测试覆盖性的方法。采用CMOS静态功耗电流(IDDQ)测试、主载波测试等基于故障测试方法可以提高覆盖率。