带电器件模型静电放电等效仿真电路与计算分析

带电器件模型(CDM)静电放电描述的是器件自身出现静电感应带电进而形成静电放电冲击的过程,是航天器电子产品地面电装/装联过程中面临的主要静电放电风险之一。针对CDM静电放电开展等效电路模型研究与设计,对其充/放电原理及发生过程进行分析;对该等效电路模型进行理论、实验与仿真研究,考察各参数对静电放电波形特性的影响。比对验证表明,等效电路的放电波形与标准波形具有较高的一致性:CDM静电放电表现为上升沿为百ps量级、最大峰值电流为数A量级、正/负周期多次振荡的冲击信号;器件自身等效电容越大则冲击脉冲越强,通路电阻也会明显改变静电冲击波形样态。地面操作中应充分考虑CDM静电放电风险,采取措施降低静电放电对电路和器件可能造成的损伤。

基于可控硅整流器的静电放电防护器件延迟特性

为提高静电放电(ESD)防护器件的开启速度,减小被保护电路的损伤概率,在0.18μm CMOS混合信号工艺下,研究了结构参数、脉冲幅值对基于可控硅整流器(SCR)的ESD防护器件开启时间的影响。在基区渡越时间的基础上,加上了结电容的影响因素,完善了器件防护延迟模型,当注入脉冲电压值增大到700V时,模型最大误差<0.5ns,在分析快沿脉冲的防护时更符合实际情况。仿真结果表明:当阱间距取5.00μm,N+与P+间隔取0.50μm,SCR的开启时间可降为1ns。此外,在大幅值的脉冲注入下,由于结电容的充电速度加快,SCR的开启也更为迅速。实验结果验证了模型和仿真分析的准确性,在一定程度上增大阱间距的宽度,减小N+与P+的间隔可以缩短SCR的开启时间,为该类型防护器件的设计、参数优化提供了理论依据。

器件充电放电模式的静电防护

由于其他的失效 ESD 模式的解决,近几年集成电路的生产中,CDM 失效的问题愈加突出。介绍了 CDM 原理及分类,主要探讨了器件静电放电(ESD)防护设计和 CDM 防护(环境、包装、操作等)的方法。

电子元器件静电放电敏感度(ESDS)检测

静电放电敏感度(ESDS)是电子元器件的重要可靠性参数之一。本文从检测目的、标准波形、检测标准及委托程序几个方面阐述了ESDS的检测方法。

整车静电放电ESD测试问题分析整改

整车在进行静电放电测试过程中出现仪表报错,车辆无法正常启动现象,通过对整车控制器的逐一排查以及对静电放电路径的分析,最终发现是某个控制模块通信芯片损坏,从而导致了整车通信异常,车辆无法正常启动,最终在其PCB板上增加ESD防护进行问题规避,从而符合整车静电放电性能要求,提升了车辆的可靠性。

静电放电(ESD)在电子装联中的危害及防护

通过对静电及静电放电(ESD)的简单介绍,提出了在电子装联中进行静电防护的必要性和基本思路。

传输线长度对静电放电防护器件性能测试的影响

为了研究传输线长度对静电放电防护器件性能测试结果的影响,建立了静电放电模型和传输线脉冲模型两种试验系统,对某限压型防护器件进行了快沿电磁脉冲注入试验,并进行了理论分析。结果表明:传输线长度对静电放电防护器件性能测试结果具有极大影响,选用不当会导致错误结论;在对静电放电防护器件性能测试时,应优先采用传输线脉冲测试法;当采用静电放电脉冲测试法时,其传输线长度不应小于8m。

GaN基LED等ESD敏感器件的静电防护技术

随着电子技术的不断发展，静电防护技术不断提高，无论是在LED器件设计上，还是在生产工艺上，抗ESD能力都有明显的进步，但是，GaN基LED毕竟是ESD敏感器件，静电防护必须渗透到生产全过程。

电子元器件检测实验室的静电防护体系

简要介绍ANSI/ESD S20.20静电放电防护控制方案,具体分析了静电放电对元器件造成的失效模式,并对静电放电损伤模型进行了深入比较分析。针对电子元器件检测实验室,依照ANSI/ESD S20.20标准规范化、系统化地提出了一套较为完善的静电防护体系。

电子产品中静电放电的产生及其防护

论述了静电放电的产生机理和特点,并对静电放电的试验方法进行了简要介绍.为了减小静电放电对电子产品的危害,文中提供了一些静电放电的防护措施,以使电子产品达到静电防护的目的.

保护环版图结构对ESD防护器件耐压能力的影响

基于华润上华0.5μm双极-CMOS-DMOS(BCD)工艺设计制备了不同保护环分布情况下的叉指型内嵌可控硅整流器的横向扩散金属氧化物半导体(LDMOS-SCR)结构器件,并利用传输线脉冲(TLP)测试比较静电放电(ESD)防护器件的耐压能力。以LDMOS-SCR结构为基础,按照16指、8指、4指和2指设置保护环,形成4种不同类型的版图结构。通过器件的直流仿真分析多指器件的开启情况,利用传输线脉冲测试对比不同保护环版图结构的耐压能力。仿真和测试结果表明,改进后的3类版图结构相对于普遍通用的第一类版图结构,二次击穿电流都有所提升,其中每8指设置一个保护环的版图结构二次击穿电流提升了76.36%,其单位面积的鲁棒性能也最好,为相应工艺设计最高耐压值的ESD防护器件提供了参考结构和方法。

氧化锌压敏电阻静电放电防护性能的测试

研究常用静电放电防护器件氧化锌压敏电阻的静电放电防护性能,设计了一套静电放电防护器性能测试方法,搭建相关测试平台。研究了该保护器件及其组合网络对静电放电脉冲的响应规律及特点,分析了动态导通电阻、箝位电压、响应峰值电流等参数与其静电放电防护能力的关系,并给出了最佳防护方案。该研究为电路设计时选取氧化锌压敏电阻作为静电放电防护器件提供了参考。

微电子器件静电防护探讨

随着我国IT产业的迅速发展和技术水平不断提高,高分子材料、微电子器件广泛应用于各领域及其产品,静电放电损伤给企业造成了重大的危害,因此,静电防护受到企业的普遍重视。研究了微电子器件静电防护的相关内容,提出了静电防护措施,以期为相关工作者提供借鉴。

控制系统的静电放电抗扰度试验及其防护措施

本文综合分析了当前静电放电(ESD)抗扰度的研究现状,对国际电工委员会标准IEC 61000-4-2:2001推荐的静电放电抗扰度测试方法进行了探讨,从静电产生的原理上进行分析,选择和设计防护措施。

航天电子元器件检测过程中的静电防护研究

以航天电子元器件为研究对象,分析其在被检测过程中产生静电放电的原因及静电放电对元器件的危害机理。总结一些静电防护技术确保元器件在检测过程中能够避免静电对其危害。

危化品存储区域内的静电放电危害及防护研究

危险化学品在存储区域内移动、运输、使用过程中产生的静电是直接威胁生产安全的重要危险源。本文阐述了危化品存储区域内静电起电的宏观过程与微观机理。着重研究了存储区域内的人体模型以及使用的金属容器,绝缘胶管等工具的特性因素。归纳出危害因素来源于静电火花放电和电晕放电。针对可能发生的静电危害事故,从区域温湿度控制、防静电设施配备到日常管理等方面总结出一系列静电防护策略。

安森美:TVS器件带来可靠的ESD防护

电子产品的快速发展对ESD（静电放电）防护提出了更高的要求。一方面，电子产品特性及功能不断增加，输入，输出端口随之增多，提升了ESD发生的可能性，另一方面，轻薄化的趋势不仅使IC尺寸不断减小，还使其ESD防护能力变弱。因此，电子产品需要更有效的ESD防护器件。

消费类电子产品电路必须有ESD保护,以防护由消费者人体接触产生的静电威胁

任何时候，如果两种不同的材料相互接触，都会产生摩擦。这种摩擦导致电荷在这两种不同材料的表面上累积。电荷的累积会导致静电放电（ESD），俗称为静电放电。在亚原子粒子的世界中，质子、