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光电子元器件的X射线检查
1
《中国电子商情（空调与冷冻）》
2003年第3期58-58,共1页
关键词
光电子元器件
X射线检查
非光学集成电路
封装
图像分析技术
缺陷识别
下载PDF
职称材料
题名
光电子元器件的X射线检查
1
出处
《中国电子商情（空调与冷冻）》
2003年第3期58-58,共1页
关键词
光电子元器件
X射线检查
非光学集成电路
封装
图像分析技术
缺陷识别
分类号
TN36 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
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1
光电子元器件的X射线检查
《中国电子商情（空调与冷冻）》
2003
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