-
题名非对称分布差错模型下特征分析器混叠概率研究
- 1
-
-
作者
赵建武
师奕兵
李炎骏
-
机构
电子科技大学自动化工程学院
-
出处
《电子测量与仪器学报》
CSCD
2008年第4期1-6,共6页
-
基金
中国教育部"新世纪优秀人才支持计划"(编号:NCET-05-0804)资助
-
文摘
本文讨论了使用非对称分布差错模型准确计算特征分析器混叠概率的一种新颖的方法,通过对混叠过程的分析,构造了由两个相同的特征分析器组成的一个虚拟特征分析器,其中一个特征分析器被参考电路的输出序列驱动,另一个被有故障的被测电路的输出序列驱动,根据所得到虚拟特征分析器对应的马尔可夫链的状态概率分布,就可以准确计算对于任意测试输入序列长度的特征分析器的混叠概率。研究了线性和非线性特征分析器的混叠概率的动态特性。分析了故障激活概率对混叠概率的重要影响。与独立分布差错模型相比,非对称分布差错模型在混叠概率的建模、准确计算和分析中能提供更全面的信息。最后,给出了应用实例,验证了文中方法的可行性和有效性。
-
关键词
特征分析
混叠概率
非对称分布差错模型
故障激活概率
-
Keywords
signature analysis, aliasing probability, asymmetric error model, fault activation probability
-
分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-