期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
高性能非平面沟道场效应晶体管
1
作者 张茂林 郭宇锋 +3 位作者 李曼 陈静 田涛 童祎 《应用科技》 CAS 2018年第1期51-55,60,共6页
半导体器件的高速化、集成化要求其特征尺寸不断缩小,不可避免地导致短沟道效应,从而使得器件性能退化。提出了一种非平面沟道晶体管,利用二维半导体器件仿真软件SILVACO对其阈值电压退化、亚阈值特性和衬底电流进行了研究,并通过能带... 半导体器件的高速化、集成化要求其特征尺寸不断缩小,不可避免地导致短沟道效应,从而使得器件性能退化。提出了一种非平面沟道晶体管,利用二维半导体器件仿真软件SILVACO对其阈值电压退化、亚阈值特性和衬底电流进行了研究,并通过能带图、电势分布图和电场分布图探讨了其物理机理。研究表明非平面沟道晶体管可以很好地抑制阈值电压退化,改善器件的亚阈值特性,降低漏电流和衬底电流,提高击穿电压,从而抑制短沟道效应,提高器件的可靠性。 展开更多
关键词 效应 场效应晶体管 非平面沟道 阈值电压 亚阈值特性
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部