脉冲激光气相沉积法制备的非晶CH薄膜特性分析

采用脉冲激光气相沉积（PLD）法,研究了氢气压强对非晶CH薄膜性能的影响。原子力显微镜图和白光干涉图显示,薄膜表面平整致密,随着氢气压强增大,粗糙度变大。拉曼光谱分析表明,氢气压强增加,G峰和D峰位置都在向高波数方向移动。傅里叶变换红外光谱分析显示,薄膜中存在sp3—CH2和sp2—CH等基团。最后,采用PLD漂浮法在最优参数氢气压强为0.3 Pa下,成功制备了不同厚度（100-300 nm）、满足一定力学强度、无明显宏观缺陷的自支撑CH薄膜。