基于加权减影的非等厚工件的X射线检测

针对X射线对厚度不均匀工件进行DR(DigitalRadiography)缺陷检测需要两次成像的问题,以实现一次成像全方位检测缺陷为目的,提出了减影和加权的处理方法。运用这种方法,恰当地提取每个像素点中的背景因素,把像素点之间相互影响的程度用合理的权重表达,最终改善了灰度显示的动态范围,降低了噪声对图像的污染、保护了缺陷的边缘和细节。