期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
ZnCdSe单量子阱中点缺陷附近由非辐射载子复合激活的点缺陷反应
1
作者
唐敏学
沈凯
《苏州大学学报(自然科学版)》
CAS
1999年第4期57-60,共4页
本文对ZnCdSe单量子阱中点缺陷附近由非辐射载子复合而激活的点缺陷反应作了研究.样品在不同温度下对荧光光谱随时间变化的测量表明,这种反应增强了辐射量子效率.实验结果与温度相关的点缺陷状态跃迁率模型相吻合,并得到该跃...
本文对ZnCdSe单量子阱中点缺陷附近由非辐射载子复合而激活的点缺陷反应作了研究.样品在不同温度下对荧光光谱随时间变化的测量表明,这种反应增强了辐射量子效率.实验结果与温度相关的点缺陷状态跃迁率模型相吻合,并得到该跃迁的激活能为0.45ev.
展开更多
关键词
ZNCDSE
单量
子
阱
非辐射载子复合
点缺陷
半导体
下载PDF
职称材料
题名
ZnCdSe单量子阱中点缺陷附近由非辐射载子复合激活的点缺陷反应
1
作者
唐敏学
沈凯
机构
苏州大学信息光学工程研究所
美国纽约市立大学研究生院和市产学院电子工程系
出处
《苏州大学学报(自然科学版)》
CAS
1999年第4期57-60,共4页
文摘
本文对ZnCdSe单量子阱中点缺陷附近由非辐射载子复合而激活的点缺陷反应作了研究.样品在不同温度下对荧光光谱随时间变化的测量表明,这种反应增强了辐射量子效率.实验结果与温度相关的点缺陷状态跃迁率模型相吻合,并得到该跃迁的激活能为0.45ev.
关键词
ZNCDSE
单量
子
阱
非辐射载子复合
点缺陷
半导体
Keywords
single quantum well
point defect reaction
nonradiative carrier recombination
active-tion energy
point defect state transition rate
分类号
TN304.26 [电子电信—物理电子学]
O474 [理学—半导体物理]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
ZnCdSe单量子阱中点缺陷附近由非辐射载子复合激活的点缺陷反应
唐敏学
沈凯
《苏州大学学报(自然科学版)》
CAS
1999
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部