期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
ZnCdSe单量子阱中点缺陷附近由非辐射载子复合激活的点缺陷反应
1
作者 唐敏学 沈凯 《苏州大学学报(自然科学版)》 CAS 1999年第4期57-60,共4页
本文对ZnCdSe单量子阱中点缺陷附近由非辐射载子复合而激活的点缺陷反应作了研究.样品在不同温度下对荧光光谱随时间变化的测量表明,这种反应增强了辐射量子效率.实验结果与温度相关的点缺陷状态跃迁率模型相吻合,并得到该跃... 本文对ZnCdSe单量子阱中点缺陷附近由非辐射载子复合而激活的点缺陷反应作了研究.样品在不同温度下对荧光光谱随时间变化的测量表明,这种反应增强了辐射量子效率.实验结果与温度相关的点缺陷状态跃迁率模型相吻合,并得到该跃迁的激活能为0.45ev. 展开更多
关键词 ZNCDSE 单量 非辐射载子复合 点缺陷 半导体
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部