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题名不同I/O端数金凸点倒装焊的预倒装工艺研究
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作者
赵竟成
周德洪
钟成
王晓卫
何炜乐
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机构
电子科技大学(深圳)高等研究院
深圳市振华微电子有限公司
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出处
《电子与封装》
2023年第11期47-53,共7页
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文摘
金凸点热压超声倒装焊中涉及的主要工艺参数,如压力和超声功率,会随着I/O端数的改变产生较大差异。对具有不同数量I/O端的金凸点倒装焊工艺参数进行研究和优化,有助于透析产生差异的根源,指导实际生产。通过对I/O端数分别为121、225、361的金凸点倒装焊工艺参数进行研究,发现随着I/O端数量的增加,单位凸点上的最大平均剪切力依次减小,达到最大平均剪切力时所需单位凸点上的平均超声功率和平均压力依次减小。工艺窗口依次缩窄的主要原因是热压超声过程中传递的能量不均匀。在倒装焊工艺中,使用预倒装的方法可使各凸点在倒装焊中的能量分布更均匀,使用此方法对具有361个I/O端的芯片进行倒装焊,单位凸点上的平均剪切力达到了0.54 N,比未使用此方法时的平均剪切力(0.5 N)提高了8%。
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关键词
I/O端数
金凸点
倒装焊
预倒装
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Keywords
number of I/O terminals
gold bump
flip chip
pre-flip
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分类号
TN305.94
[电子电信—物理电子学]
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