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作为BEPCII预注入器的光阴极注入器(英文)
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作者 裴士伦 董东 +1 位作者 裴国玺 王书鸿 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第9期1521-1527,共7页
为了提高并且采用双束加速技术以进一步提高BEPCII正电子从直线加速器注入到储存环的速率,BEPCII(Bei-jing Electron Positron Collider Upgrade Project)正在建造带有两个次谐波聚束腔的新预注入器。提出了使用光阴极注入器作为BEPCII... 为了提高并且采用双束加速技术以进一步提高BEPCII正电子从直线加速器注入到储存环的速率,BEPCII(Bei-jing Electron Positron Collider Upgrade Project)正在建造带有两个次谐波聚束腔的新预注入器。提出了使用光阴极注入器作为BEPCII预注入器的新方案,其性能优于次谐波聚束系统:发射度和能散至多为次谐波聚束系统的1/4,100%的传输效率,没有卫星束团的干扰,等。此外,还分别对光阴极注入器在高电荷量和低电荷量两种情况下的束流动力学进行了模拟计算和优化研究,并将其性能与正在建造的次谐波聚束系统和旧聚束系统的性能进行了比较和讨论。由此光阴极注入器产生的电子束还可以在将来用作激光-等离子体或激光-非传导性加速结构的尾场加速研究。 展开更多
关键词 预注入 束流动力学 光阴极电子枪 光阴极注入 高电荷
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750keV,50mA H^-RFQ预注入器调整结果
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作者 张华顺 A.Schempp +3 位作者 G.Winter N.Schirm K.H.Pape 王书鸿 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第1期32-37,共6页
文章介绍西德DESY研究所750keV负氢离子预注入器的调整结果。通过提高弧流,磁控管型H^-离子源可以引出18keV,60—80mA的H^-脉冲离子流。发现外部磁场可以在螺旋管内部感生一个方向大体相同的磁场。在低能输运段,离子束空间电荷中和所需... 文章介绍西德DESY研究所750keV负氢离子预注入器的调整结果。通过提高弧流,磁控管型H^-离子源可以引出18keV,60—80mA的H^-脉冲离子流。发现外部磁场可以在螺旋管内部感生一个方向大体相同的磁场。在低能输运段,离子束空间电荷中和所需的时间约100μs。在离子源引出束流约65mA时,经两对螺旋管聚焦和RFQ加速后可以获得能量为750±8.8keV,聚团半宽度约0.8ns,发射度约3mm·mrad,束流为52mA的脉冲H^-流;其中33mA以上的束流处于1mm·mrad以内。 展开更多
关键词 预注入 RFQ 负氢离子源 加速器
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BEPCⅡ未来预注入器的优化研究(英文) 被引量:3
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作者 裴士伦 王书鸿 +1 位作者 顾鹏 达刘波 《高能物理与核物理》 CSCD 北大核心 2004年第5期549-554,共6页
BEPCⅡ未来的预注入器由热阴极电子枪、两个次谐波聚束器 (SHB)、行波预聚束器以及行波聚束器组成 .除电子枪以外 ,各个部分都位于螺线管磁场中 .使用PARMELA和EGUN程序模拟和优化了预注入器的束流动力学 .对SHB的聚束电压和漂移距离、... BEPCⅡ未来的预注入器由热阴极电子枪、两个次谐波聚束器 (SHB)、行波预聚束器以及行波聚束器组成 .除电子枪以外 ,各个部分都位于螺线管磁场中 .使用PARMELA和EGUN程序模拟和优化了预注入器的束流动力学 .对SHB的聚束电压和漂移距离、预聚束器与聚束器的相位和加速梯度、螺线管磁场的形状等都进行了细致的研究和优化 ,并讨论了聚束器出口 10ps束长内电荷量的极限值 . 展开更多
关键词 预注入 束流动力学 次谐波聚束器 BEPCⅡ 聚束电压 漂移距离
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氦离子预注入对钨中氘滞留行为的影响
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作者 金玉花 贺冉 +2 位作者 张学希 乔丽 王鹏 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2020年第10期3498-3504,共7页
利用高能离子注入机和直线等离子体模拟装置将氦离子预注入钨中,再进行氘等离子体辐照。采用扫描镜(SEM)结合聚焦离子束(FIB)(SEM-FIB),透射电镜(TEM),辉光放电光谱仪(GD-OES)和热脱附谱(TDS)等分析方法,研究了高能氦离子预注入对氘等... 利用高能离子注入机和直线等离子体模拟装置将氦离子预注入钨中,再进行氘等离子体辐照。采用扫描镜(SEM)结合聚焦离子束(FIB)(SEM-FIB),透射电镜(TEM),辉光放电光谱仪(GD-OES)和热脱附谱(TDS)等分析方法,研究了高能氦离子预注入对氘等离子体再辐照后钨中氘滞留行为的影响。结果表明:氦离子预注入钨,在辐照损伤区域形成大量氦泡,钨经过氘等离子体再辐照后,表面的氘泡数量明显低于单独氘等离子体辐照的样品。从GD-OES分析中可以看到,在氦捕获位处氘滞留浓度明显升高,同时氦离子预注入增加了氘在钨中的扩散深度。结合TDS分析可知,氦离子预注入增加了氘在钨中的滞留总量,这是由于氦离子预注入后,形成的缺陷又为钨中氘的俘获提供大量新的位点,从而导致钨中的氘滞留量明显提高。 展开更多
关键词 预注入 GD-OES 滞留
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外注入式独立调谐微波电子枪的概念设计 被引量:1
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作者 梁军军 冯光耀 +1 位作者 裴元吉 庞健 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第1期197-201,共5页
为得到微脉冲束团长度在百fs量级且高重复频率,设计了一种紧凑型的强流电子枪结构———独立调谐微波热发射电子枪。该电子腔具有双驻波加速腔,两个驻波加速腔之间相互没有耦合,可以分别独立地馈入功率、调节相位。通过优化功率与相位,... 为得到微脉冲束团长度在百fs量级且高重复频率,设计了一种紧凑型的强流电子枪结构———独立调谐微波热发射电子枪。该电子腔具有双驻波加速腔,两个驻波加速腔之间相互没有耦合,可以分别独立地馈入功率、调节相位。通过优化功率与相位,可以得到较优的束流品质,同时避免了α磁铁和激光系统的使用,使得结构更加紧凑。并采用外注入式结构增大流强、降低能散度,同时消除电子反轰对阴极的负面影响。对不同结构参数的腔体进行1维和3维束流动力学计算,可以得到较为理想的腔体参数。通过调节预注入器的馈入功率和粒子入射相位,可以进一步的压缩束团长度。 展开更多
关键词 热发射 独立调谐腔 注入 束团压缩 预注入
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交流1000kV避雷器第6级线路放电试验参数设计 被引量:6
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作者 王保山 王维洲 +6 位作者 熊易 左中秋 汤霖 万克 沈鼎申 贾锦朝 陈立 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第11期2597-2602,共6页
从3个方面即试验方法的合理性、等价性、实用性出发,讨论和分析了1000kV特高压交流系统用无间隙金属氧化物避雷器的线路放电试验方法。并以我国1000kV特高压交流线路实际参数和预期过电压标么值为参考,试定义了可以满足1000kV避雷器2次... 从3个方面即试验方法的合理性、等价性、实用性出发,讨论和分析了1000kV特高压交流系统用无间隙金属氧化物避雷器的线路放电试验方法。并以我国1000kV特高压交流线路实际参数和预期过电压标么值为参考,试定义了可以满足1000kV避雷器2次线路放电注入的能量>40MJ要求的第6级线路放电试验参数,规范了第6级线路放电的试验方法,可供我国1000kV避雷器标准制定时参考。 展开更多
关键词 特高压 金属氧化物避雷器 长持续时间冲击电流 线路放电等级 操作冲击动作负载 避雷器的热稳定性 避雷器能量处理能力 预注入能量
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外侧隔升压系统与中枢情绪升压环路之间的联系
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作者 李耀华 吴建新 周萍 《中国病理生理杂志》 CAS CSCD 北大核心 2010年第A10期2050-2050,共1页
关键词 中央杏仁核 胆碱能神经纤维 预注入 下丘脑后核 受体介导 蓝斑 拮抗剂 核团 谷氨酸钠
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具有应变沟道及EOT 1.2nm高性能栅长22nm CMOS器件
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作者 徐秋霞 钱鹤 +6 位作者 段晓峰 刘海华 王大海 韩郑生 刘明 陈宝钦 李海欧 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第z1期283-290,共8页
深入研究了亚30nm CMOS关键工艺技术,特别是提出了一种新的低成本的提高空穴迁移率的技术--Ge预非晶化S/D延伸区诱生沟道应变技术,它使栅长90nm pMOS空穴有效迁移率在0.6MV/cm电场下提高32%.而且空穴有效迁移率的改善,随器件特征尺寸缩... 深入研究了亚30nm CMOS关键工艺技术,特别是提出了一种新的低成本的提高空穴迁移率的技术--Ge预非晶化S/D延伸区诱生沟道应变技术,它使栅长90nm pMOS空穴有效迁移率在0.6MV/cm电场下提高32%.而且空穴有效迁移率的改善,随器件特征尺寸缩小而增强.利用零阶劳厄线衍射的大角度会聚束电子衍射分析表明,在沟道区相应的压应变为-3.6%.在集成技术优化的基础上,研制成功了高性能栅长22nm应变沟道CMOS器件及栅长27nm CMOS 32分频器电路(其中分别嵌入了57级/201级环形振荡器),EOT为1.2nm,具有Ni自对准硅化物. 展开更多
关键词 应变硅沟道 压应力 Ge非晶化注入 等效氧化层厚度 栅长 CMOS
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High Performance 70nm CMOS Devices
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作者 徐秋霞 钱鹤 +5 位作者 殷华湘 贾林 季红浩 陈宝钦 朱亚江 刘明 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第2期134-139,共6页
A high performance 70nm CMOS device has been demonstrated for the first time in the continent, China. Some innovations in techniques are applied to restrain the short channel effect and improve the driving ability, ... A high performance 70nm CMOS device has been demonstrated for the first time in the continent, China. Some innovations in techniques are applied to restrain the short channel effect and improve the driving ability, such as 3nm nitrided oxide, dual poly Si gate electrode, novel super steep retrograde channel doping by heavy ion implantation, ultra shallow S/D extension formed by Ge PAI(Pre Amorphism Implantation) plus LEI(Low Energy Implantation), thin and low resistance Ti SALICIDE by Ge PAI and special cleaning, etc. The shortest channel length of the CMOS device is 70nm. The threshold voltages, G m and off current are 0 28V,490mS·mm -1 and 0 08nA/μm for NMOS and -0 3V,340mS·mm -1 and 0 2nA/μm for PMOS, respectively. Delays of 23 5ps/stage at 1 5V, 17 5ps/stage at 2 0V and 12 5ps/stage at 3V are achieved in the 57 stage unloaded 100nm CMOS ring oscillator circuits. 展开更多
关键词 high performance 70nm CMOS device S/D extension nitrided gate oxide Ge PAI SALICIDE
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通过介质层预注电荷提高射频微机电开关性能
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作者 熊毅 张向军 温诗铸 《清华大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第8期1219-1224,共6页
为提高电容式静电驱动射频(radio frequency,RF)微机电系统(micro-electro-mechanical systems,MEMS)开关的驱动与使用性能,进行了模拟仿真。分析发现:随着开关次数的增加,介质层积累的电荷可以引起电容-电压曲线的偏移,进而引起开关的... 为提高电容式静电驱动射频(radio frequency,RF)微机电系统(micro-electro-mechanical systems,MEMS)开关的驱动与使用性能,进行了模拟仿真。分析发现:随着开关次数的增加,介质层积累的电荷可以引起电容-电压曲线的偏移,进而引起开关的失效。为了避免这样的失效,通过在界面介质层内预注入适量的静电荷,并采用相应的新的驱动模式,可以在不改变开关结构参数的条件下,将最佳驱动电源电压幅值降为约原设计幅值1/2。对仿真分析的结论进行相关实验,一定程度上验证了设想的可行性。同时分析还发现如果采用适当的介电层材料,利用界面预注入的静电荷可能可以减慢电荷在介电层中的积累速度,从而维持驱动电压的稳定并延长开关的使用寿命。 展开更多
关键词 射频微机电(RF MEMS)开关 静电累积 黏附失效 电荷预注入
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