塑料光纤微分模延迟的频域相移法研究

塑料光纤的微分模延迟数据对研究塑料光纤的色散特性具有非常重要的意义。采用频域相移法测量了不同长度的两种折射率分布塑料光纤 :阶跃型塑料光纤 (SI POF)和渐变型塑料光纤 (GI POF)的微分模延迟曲线。实验结果表明 ,由于短光纤可以忽略模式耦合和模式损耗 ,1m塑料光纤的微分模延迟测量值与理论计算值吻合得非常好。因此 ,频域相移法可以简单、方便、精确地测量塑料光纤的微分模延迟。此外 ,通过比较不同长度塑料光纤的微分模延迟曲线的变化 ,可在一定程度上分析光纤中存在的模式耦合。

高精度光纤色散测试技术

主要介绍了一套高精度光纤色散测试系统,系统采用频域相移法测量光纤的零色散波长以减小系统误差的影响,其零色散波长测量不确定度达到了0.11 nm(k=2)。