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Ku/Ka/W三频段单馈源反射面天线设计
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作者 方向 范家熠 汪洁 《现代电子技术》 北大核心 2024年第14期83-88,共6页
为了简化多频段反射面天线的整体结构与体积,设计一个结构简单的三频段馈源,采用单腔体的形式而非复杂的共轴嵌套式或填充介质等方法,以此来精简整个馈源的设计与加工。为了在Ku/Ka两个相近低频段获得较好的隔离度,分别设计了两个低通... 为了简化多频段反射面天线的整体结构与体积,设计一个结构简单的三频段馈源,采用单腔体的形式而非复杂的共轴嵌套式或填充介质等方法,以此来精简整个馈源的设计与加工。为了在Ku/Ka两个相近低频段获得较好的隔离度,分别设计了两个低通的三阶滤波器。使用ANSYS HFSS电磁仿真软件进行Ku/Ka/W三频段单馈源反射面天线设计和优化分析。实际测量时,馈源三个端口的S参数采用矢量网络分析仪测得,馈源及反射面天线系统的增益则在暗室中测量得到。天线仿真设计和实测结果表明,在Ku/Ka/W三个常用频段,即14.5~15.5 GHz、34.5~35.5 GHz及93~95 GHz频率范围内,天线的电压驻波比均小于1.3,各个端口隔离度优于40 dB,具有代表性的三个中心频率点14.5 GHz、35 GHz、94 GHz的天线增益分别为30.5 dBi、34.6 dBi和39.7 dBi,交叉极化优于-23.9 dB,旁瓣电平优于-21.6 dB。所设计的反射面天线实现了频段跨度接近6.5∶1的Ku/Ka/W三频段特性。 展开更多
关键词 反射面天线 单馈源 三阶滤波器 面对称结构 频点测试
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微波暗室点频RCS测试方法研究与误差分析 被引量:1
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作者 郭静 万顺生 陆萍 《佳木斯大学学报(自然科学版)》 CAS 2009年第6期818-821,共4页
在微波暗室远场条件下,本文研究开发了一种点频RCS测试系统,对测试中可能存在的误差及减小误差的方法做了详细的讨论,同时通过对实际目标的测试及分析,指出点频RCS测试精度不高,较适合于大散射目标高频段(f≥2GHz)的测试.
关键词 RCS测试 测试 误差分析 微波暗室
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蓄电池内阻测试仪前置可选频带通滤波器设计
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作者 黄世回 王汝钢 《微型机与应用》 2016年第12期39-41,共3页
针对多频点蓄电池内阻测试法双低频测试信号滤波问题,设计基于MAX267有源带通滤波器芯片的可选频4阶切比雪夫带通滤波器。通过改变基准输入时钟频率信号,实现带通滤波器通带中心频率的切换。详细介绍了这种前置变频带通滤波器级联方式... 针对多频点蓄电池内阻测试法双低频测试信号滤波问题,设计基于MAX267有源带通滤波器芯片的可选频4阶切比雪夫带通滤波器。通过改变基准输入时钟频率信号,实现带通滤波器通带中心频率的切换。详细介绍了这种前置变频带通滤波器级联方式、切比雪夫滤波器选型配置、可编程引脚F_n、Q_n的配置方法、外围级联电路计算以及可变基准时钟信号的产生方法。外围电路十分精简,各中心频率通带幅频性能良好,满足工程需求。 展开更多
关键词 MAX267 频点测试 可编程滤波器 带通滤波器 切比雪夫滤波器 蓄电池内阻
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远场RCS的精确测试方法研究 被引量:11
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作者 李南京 张麟兮 +2 位作者 许家栋 叶秀南 李萍 《现代雷达》 CSCD 北大核心 2006年第8期70-73,共4页
传统的微波暗室远场雷达散射截面积(RCS)测量方法是采用点频测试,对低RCS目标,测试系统中需添置对消系统,使暗室背景再下降20 dB以上,才能更准确地检测目标。该方案的缺陷是被测件正后方的暗室后墙反射产生阴影,无法进行对消,而且往往... 传统的微波暗室远场雷达散射截面积(RCS)测量方法是采用点频测试,对低RCS目标,测试系统中需添置对消系统,使暗室背景再下降20 dB以上,才能更准确地检测目标。该方案的缺陷是被测件正后方的暗室后墙反射产生阴影,无法进行对消,而且往往对消系统稳定性较差。文中提出的另一种方法,即RCS的扫频测试方法,通过适当的设置,可得到非常高的精度,而且测试系统简单,省去了复杂的手工暗室对消系统,信息量大。 展开更多
关键词 测试 对消系统 傅里叶变换 时域测量 雷达散射截面积
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基于紧缩场暗室的相控阵天线快速测试系统设计研究 被引量:2
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作者 钟洋 卢刚 王伟豪 《电子制作》 2022年第23期87-90,75,共5页
随着有源相控阵天线技术的发展,针对有源相控阵天线的快速校准及测量成为了制约其大批量产业化生产的瓶颈。本文针对有源相控阵天线校准测试效率问题设计了一套基于紧缩场暗室的相控阵天线快速测试系统,可实现多频点、多波束的自动化测... 随着有源相控阵天线技术的发展,针对有源相控阵天线的快速校准及测量成为了制约其大批量产业化生产的瓶颈。本文针对有源相控阵天线校准测试效率问题设计了一套基于紧缩场暗室的相控阵天线快速测试系统,可实现多频点、多波束的自动化测试。系统用于产品辐射特性测试,对远场波瓣图进行采集,并具备幅相校准,波束指向精度补偿,EIRP和G/T等指标的测试和处理能力。 展开更多
关键词 紧缩场暗室 相控阵天线 频点测试 多波束测试 自动化快速测试
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