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改善高频宽压控晶振频率温度稳定性方法 被引量:1
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作者 韩艳菊 杨科 郑鸿耀 《宇航计测技术》 CSCD 2014年第6期45-48,共4页
高频宽压控晶体振荡器广泛应用于各种接收机和应答机中,工作温度范围通常为-40℃^+85℃。对于该类晶振,极易出现频率温度稳定性相对于其内部石英谐振器明显恶化的现象。对此,从理论上分析了引起恶化的原因,并提出通过合理控制振荡电路... 高频宽压控晶体振荡器广泛应用于各种接收机和应答机中,工作温度范围通常为-40℃^+85℃。对于该类晶振,极易出现频率温度稳定性相对于其内部石英谐振器明显恶化的现象。对此,从理论上分析了引起恶化的原因,并提出通过合理控制振荡电路的压控范围和石英谐振器的激励功率,可以改善高频宽压控晶振的温频特性。最后,研制并测试了4只102.3MHz压控晶振,结果优于指标要求,充分验证了方法的有效性。 展开更多
关键词 压控晶振 频率-温度稳定性 高频
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CaTiO_3基微波介质陶瓷的频率温度稳定性 被引量:5
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作者 沈杰 周静 +3 位作者 石国强 杨文才 刘韩星 陈文 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2013年第11期480-485,共6页
通过对克劳修斯-莫索蒂方程的近似,分析了钙钛矿结构微波介质陶瓷频率温度系数(τf)的主要影响因素,发现改变材料介电响应中离子位移极化和电子位移极化的比例,可调节频率温度系数的正负与大小.通过电子结构计算和容忍因子分析,预测引入... 通过对克劳修斯-莫索蒂方程的近似,分析了钙钛矿结构微波介质陶瓷频率温度系数(τf)的主要影响因素,发现改变材料介电响应中离子位移极化和电子位移极化的比例,可调节频率温度系数的正负与大小.通过电子结构计算和容忍因子分析,预测引入(Zn1/3Nb2/3)4+对具有正温度系数的CaTiO3进行B位取代将提高材料电子极化响应比例,调节τf由正变负.采用偏铌酸盐为前驱体,通过固相反应法合成了Ca[(Zn1/3Nb2/3)xTi(1-x)]O3钙钛矿结构陶瓷,并对其进行结构分析和性能测试,实验结果与理论分析一致,获得了具有近零频率温度系数的Ca[(Zn1/3Nb2/3)0.7Ti0.3]O3介质陶瓷材料. 展开更多
关键词 B位复合钙钛矿陶瓷 谐振频率温度稳定性 极化机理 BO6八面体倾斜
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高稳定SAW振荡器 被引量:1
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作者 程国辉 杨勋 罗贤盛 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2004年第4期262-264,共3页
介绍了高稳定声表面波SZD817型振荡器,它具有优良的频率温度稳定特性,体积小(50mm×30mm×18mm),质量轻(小于50g),相位噪声低,谐波和杂波抑制高,工作温度范围宽(-55~+85°C),可靠性高等特点。一般声表面波振荡器的频率温... 介绍了高稳定声表面波SZD817型振荡器,它具有优良的频率温度稳定特性,体积小(50mm×30mm×18mm),质量轻(小于50g),相位噪声低,谐波和杂波抑制高,工作温度范围宽(-55~+85°C),可靠性高等特点。一般声表面波振荡器的频率温度稳定性都在10-4量级以上。而SZD817型振荡器的频率温度稳定性,在工作温度-55~+85°C情况下为10-6量级,在-40~+70°C情况下达10-7量级。 展开更多
关键词 声表面波振荡器 频率温度稳定性 声表面波压控振荡器
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一种恒温晶振专用集成电路芯片设计 被引量:1
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作者 黎敏强 路烜 +2 位作者 赵瑞华 陈中平 王占奎 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第11期832-835,共4页
介绍了一种基于BiCMOS工艺的恒温晶振专用集成电路芯片。该芯片集成了分立式恒温晶振的大部分有源和无源器件,包括稳压、振荡、控温和输出缓冲等单元电路。稳压、振荡等对相位噪声影响较大的电路其关键部分采用双极工艺器件设计;控温、... 介绍了一种基于BiCMOS工艺的恒温晶振专用集成电路芯片。该芯片集成了分立式恒温晶振的大部分有源和无源器件,包括稳压、振荡、控温和输出缓冲等单元电路。稳压、振荡等对相位噪声影响较大的电路其关键部分采用双极工艺器件设计;控温、输出缓冲等电路采用CMOS工艺器件设计;二者结合降低相位噪声的同时减少了芯片版图面积。稳压电路引入了动态补偿网络,以增强电路稳定性;振荡电路采用科尔匹兹并联振荡电路,该电路所需器件少且工作稳定,利于集成。实测结果表明,用该芯片结合10 MHz SC切晶体谐振器研制的恒温晶振样品相位噪声达到-103 dBc/Hz@1 Hz,-128 dBc/Hz@10 Hz,-142 dBc/Hz@100 Hz,-151 dBc/Hz@1 kHz;频率-温度稳定性在-55~+70℃范围内优于±2×10-8。 展开更多
关键词 恒温晶振(OCXO) 专用集成电路(ASIC) 相位噪声 频率-温度稳定性 晶体谐振器
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恒温温补石英晶体振荡器 被引量:1
5
作者 黎敏强 孙敏 +1 位作者 陈中平 王占奎 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2013年第2期122-125,共4页
提出了一种恒温温补晶振(OCTCXO)的实现方法,该OCTCXO由两部分组成:温度补偿晶体振荡器(TCXO)和恒温槽。TCXO放置在恒温槽中,恒温槽是一个负反馈自动控制系统,当环境温度小于恒温槽设定的温度时,OCTCXO相当于一个恒温晶体振荡器(OCXO);... 提出了一种恒温温补晶振(OCTCXO)的实现方法,该OCTCXO由两部分组成:温度补偿晶体振荡器(TCXO)和恒温槽。TCXO放置在恒温槽中,恒温槽是一个负反馈自动控制系统,当环境温度小于恒温槽设定的温度时,OCTCXO相当于一个恒温晶体振荡器(OCXO);当环境温度大于恒温槽设定的温度时,恒温槽停止工作,整个OCTCXO的频率-温度稳定性由TCXO决定,由于OCTCXO最高工作温度与恒温槽设定的温度之间的温度区间很小,使得TCXO在该温度区间内的频率-温度稳定性得到较大的改善,从而提高OCTCXO的频率-温度稳定性。实验结果表明,该OCTCXO标称频率10 MHz,在-40~70℃温度范围内频率-温度稳定性为±1×10-7;最大功耗为1.15 W,常温工作时功耗为410 mW;体积为21.0 mm×13.0 mm×5.1 mm。 展开更多
关键词 恒温晶体振荡器 温度补偿晶体振荡器 石英晶体振荡器 频率-温度稳定性 功耗
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一种小型高频恒温晶体振荡器设计 被引量:2
6
作者 苏霞 韩艳菊 +3 位作者 王巨 罗梦佳 于姗姗 郑鸿耀 《宇航计测技术》 CSCD 2018年第5期43-47,共5页
恒温晶体振荡器因其频率稳定度高、相位噪声低,在军用电子设备和民用通信领域得到广泛的应用。本文介绍了一种100MHz小型恒温晶振,该产品外形尺寸为25.4mm×25.4mm×12.7mm,采用SC切晶体。振荡电路使用改进的Colpitts电路,控温... 恒温晶体振荡器因其频率稳定度高、相位噪声低,在军用电子设备和民用通信领域得到广泛的应用。本文介绍了一种100MHz小型恒温晶振,该产品外形尺寸为25.4mm×25.4mm×12.7mm,采用SC切晶体。振荡电路使用改进的Colpitts电路,控温电路则为双运放直流放大连续控温结构。测试结果表明,产品相位噪声达到-140dBc/Hz@100Hz、-160dBc/Hz@1kHz、-172dBc/Hz@100kHz;短期稳定度达2.11E-12/1s;在-40℃~70℃的工作温度范围内,频率温度稳定性达到±3.0E-8。 展开更多
关键词 恒温晶振 小型化 高频 相位噪声 短期稳定 频率温度稳定性
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TM_(010)模圆柱腔GUNN振荡器
7
作者 唐萌圣 《苏州科技学院学报(社会科学版)》 1996年第1期6-11,共6页
本文论述了TM010模式圆柱腔GUNN振荡器的理论基础、设计原理与使用特点。这种振荡器在微波技术中作为中精度、小功率信号源在测量、雷达、微波通信、卫星通信以及微波报警器等方面有广泛的应用。
关键词 圆柱形谐振腔体 TM010模式 振荡器 频率温度稳定性
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Enhanced energy storage properties and temperature stability of fatigue-free La-modified PbZrO3 films under low electric fields 被引量:1
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作者 Xiaojun Qiao Wenping Geng +9 位作者 Xi Chen Le Zhang Dongwan Zheng Liaoyuan Zhang Jian He Xiaojuan Hou Yun Yang Min Cui Kaiyang Zeng Xiujian Chou 《Science China Materials》 SCIE EI CSCD 2020年第11期2325-2334,共10页
Electrostatic energy^-storage capacitors,with their ultrahigh storage density and high temperature stability,have been receiving increasing attention of late for their ability to meet the critical requirements of puls... Electrostatic energy^-storage capacitors,with their ultrahigh storage density and high temperature stability,have been receiving increasing attention of late for their ability to meet the critical requirements of pulsed power devices in low^-consumption systems.In such a context,this work reports on the successful production of anti^-ferroelectric(AFE)thin films with excellent energy storage performance under a relatively low electric field.In particular,La^-doped Pb Zr O3 thin films were fabricated using a sol^-gel method,yielding a recoverable energy storage density of 34.87 J cm^-3 with an efficiency of 59.23%at room temperature under the electric field of^800 k V cm^-1.The temperature dependence of the energy storage property was demonstrated from room temperature to 210°C,indicating a stable density variation between 34.87 and 27.98 J cm^-3.The films also exhibited excellent anti^-fatigue property(endurance of up to 3×10^9cycles and the recoverable energy storage density varied from 39.78 to 29.32 J cm^-3 combined with an efficiency of 61.03%–44.95%under the test frequencies from 10 to 5000 Hz).All results were obtained using compact films with a high polarization(Pmax)of approximately 103.7μC cm^-2 and low remnant polarization(Pr^7μC cm^-2),which was owing to the combination of La Ni O3 buffer layers and vacancies at Pb sites.These results illustrate the great potential of pulsed power devices in low^-consumption systems operating in a wide range of temperatures and long^-term operations. 展开更多
关键词 ANTIFERROELECTRIC energy storage SOL-GEL Pb Zr O3thin film stability
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