高热惊厥患儿额颞叶区脑电图特点与癫痫的发生及神经发育不良的关系

目的:探讨高热惊厥(FS)患儿额颞叶区脑电图特点与癫痫的发生及神经发育不良的关系。方法:将我院2017年1月-2019年12月间收治的100例符合入组标准的FS患儿分为EEG正常组和EEG异常组。所有患者均在入组后采用脑电图仪进行EEG检查;随访1年,详细记录癫痫情况,参照《中国修订韦氏儿童智力量表手册》认知功能评定标准对患儿的神经发育功能进行评估。结果:EEG正常组和EEG异常组两组患儿性别、热性惊厥持续时间、热性惊厥再发次数、热性惊厥再发、惊厥类型、热性惊厥家族病史、发病年龄、癫痫家族病史例等临床资料无明显差异(P>0.05);癫痫组FS患儿EEG异常发生率明显高于无癫痫组,差异有统计学意义(P<0.05);神经发育不良组FS患儿EEG异常发生率明显高于神经发育正常组,差异有统计学意义(P<0.05);EEG异常与FS患儿癫痫和神经发育不良均存显著正相关关系(P<0.05);EEG异常是影响FS患儿癫痫和神经发育不良发生的独立性威胁因素(P<0.05)。结论:高热惊厥患儿额颞叶区脑电图异常与癫痫和神经发育不良均存显著正相关关系,且是影响FS患儿癫痫和神经发育不良发生的独立性威胁因素。

热性惊厥儿童额颞叶区脑电图异常与疾病特征及预后的关系

目的分析热性惊厥儿童额颞叶区脑电图异常与疾病特征及预后的关系。方法回顾性抽取2020年6月至2023年6月河南省直第三人民医院收治的68例高热性惊厥患儿,均进行脑电图扫描,其中额颞叶区脑电图正常38例(对照组)和不正常30例(研究组)。比较两组临床疾病特征,比较两组预后(发生癫痫以及热性惊厥复发的情况)。结果两组性别、热性惊厥类型、惊厥发作时状态、惊厥家族史情况比较差异未见统计学意义(P>0.05);两组年龄、惊厥发作类型、癫痫家族史、惊厥发作持续时间、24 h内惊厥发作次数、发热温度情况比较,差异有统计学意义(P<0.05)。随访3个月,研究组癫痫发生率(16.67%,5/30)、惊厥复发率(40.00%,12/30)高于对照组(2.63%,1/38;15.79%,6/38),P<0.05。结论年龄、惊厥发作类型、癫痫家族史、惊厥发作持续时间、24 h内惊厥发作次数、发热温度与额颞叶区脑电图异常有关,且额颞叶区脑电图异常的热性惊厥儿童预后更差,更容易在日后复发惊厥,甚至发生癫痫。