第二届国际电子测试与测量专业研讨会专版 专业再现实力—第二届国际(深圳)电子测试与测量专业研讨会纪实

2004年4月13日，由广州市巨流信息科技传媒有限公司承办的第二届国际(深圳)电子测试与测量专业研讨会在深圳高变会C馆多功能厅成功落下帷幕。许多国际国内著名企业的高层代表携先进的技术优势、丰富的行业经验及产品认证知识，与业界精英一起就电子测试测量技术和质量认证知识进行了全面的交流，将本届研讨会提升到了一个极高的专业高度。

第五届国际电子测试与测量专业研讨会

在2005年秋季（第66届）全国电子产品展览会期间。主办单位在上海新国际博览中心举办了电子测试与测量专业研讨会。会上，中国工程院院士张钟华先生介绍了“‘十一五’电子测试与测量技术的发展”、美国吉时利公司介绍了“半导体器件特性测试的新技术”、日本横河公司介绍了“高性能便捷的电子元件测试技术”、美国NI公司介绍了“高效、模块化的消费电子测试解决方案”、凌华集团介绍了“PXI系统于各式量测应用开发环境中的实际案例”、北京航天测控公司介绍了“故障诊断技术研究与应用”、赛宝实验室介绍了“电磁兼容测试仪器的计量校准”、南京长盛公司介绍了“电子设备（电器设备）的防触电措施和安全测试（试验）”等。