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扫描电镜及X射线能谱仪在首饰镀层检测中的应用 被引量:6
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作者 谭莹 张震坤 +2 位作者 陈明 曹标 刘健斌 《理化检验(物理分册)》 CAS 2007年第4期185-187,共3页
采用扫描电镜及X射线能谱仪对首饰镀层进行了检测,并对两种方法进行了比较。结果表明,镀铑首饰采用无损检测法较合适,而镀金首饰采用破坏性检测法较合适。
关键词 首饰镀层 扫描电镜 X射线能谱仪 检测
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