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直流偏压下透折膜/水溶液体系的介电解析 被引量:3
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作者 赵孔双 花井哲也 《Chinese Journal of Chemical Physics》 SCIE CAS CSCD 1996年第2期154-161,共8页
在直流偏压下,结合I-V特征曲线对由Visking透析膜和水溶液构成的体系在100Hz-13MHz的频率范围进行了介电测量.当直流偏压超过I-V特征曲线所给出的极限电流密度时,该体系显示了一个显著的介电弛豫,它是由于在膜表面产生的浓度极化层引起... 在直流偏压下,结合I-V特征曲线对由Visking透析膜和水溶液构成的体系在100Hz-13MHz的频率范围进行了介电测量.当直流偏压超过I-V特征曲线所给出的极限电流密度时,该体系显示了一个显著的介电弛豫,它是由于在膜表面产生的浓度极化层引起的.在农度极化层和体相溶液的串联回路模型基础上,对此介电弛豫进行了介电解析,进而从实验上测得的介电参数获得了特征浓度极化层构造的参数,以及体相溶液的电导和电容的值.这些值与在离子义换膜体系得到的结果相比较,可认为这种透析膜在稀溶液中是呈弱荷电性质的.进一步,用介电弛豫的圆弧规则进行了电容和电导的频率依存性算,其结果证明该弛豫具有驰豫时间分布,它可考虑为是一种与浓度极化层有关的非均匀分布的介电弛豫机理. 展开更多
关键词 透析膜 介电解析 介电测量 驰豫机理
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