骨性Ⅱ类错的颅底形态研究

目的用几何形态测量和传统头影测量2种方法,对Ⅱ类错的颅底形态进行研究。方法随机选取Ⅱ类与Ⅰ类错骨面型儿童的头颅定位侧位片各40张,描记颅底的9个标志点,数字化后,用Procrustes重叠法和薄板曲线法这2种几何形态测量法比较Ⅱ类与Ⅰ类错牙合的颅底形态。并用传统头影测量法对颅底的测量值进行分析。结果Ⅱ类与Ⅰ类错相比,颅底角无明显差别;后颅底发生显著变化,水平向后明显延长,伴向上的轻度抬高;前颅底区的S-SE段向前下方改变。结论Ⅱ类错的颅底形态有其自身特点;颅底形态影响Ⅱ类错的形成。