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1310nm LD组件高低温循环寿命研究
1
作者
左昉
苏美开
武金刚
《光学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第1期77-78,82,共3页
研究了半导体激光二极管(LD)组件的使用寿命。模拟了在不同的环境条件下,对1310 nm LD组件进行了高低温循环寿命实验,建立了循环寿命的数学模型。结果表明:循环寿命与循环的温差、循环的速度成指数关系,通过测试LD组件在高温差、高循环...
研究了半导体激光二极管(LD)组件的使用寿命。模拟了在不同的环境条件下,对1310 nm LD组件进行了高低温循环寿命实验,建立了循环寿命的数学模型。结果表明:循环寿命与循环的温差、循环的速度成指数关系,通过测试LD组件在高温差、高循环速度条件下的循环寿命,外推器件正常工作条件下的循环寿命。得到了LD组件可靠性数据,为工艺设计人员提出量化数据。
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关键词
半导体激光器组件
高低温循环寿命
寿命
数学模型
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职称材料
题名
1310nm LD组件高低温循环寿命研究
1
作者
左昉
苏美开
武金刚
机构
北京科技大学信息工程学院
北京理工大学光电工程系
出处
《光学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第1期77-78,82,共3页
文摘
研究了半导体激光二极管(LD)组件的使用寿命。模拟了在不同的环境条件下,对1310 nm LD组件进行了高低温循环寿命实验,建立了循环寿命的数学模型。结果表明:循环寿命与循环的温差、循环的速度成指数关系,通过测试LD组件在高温差、高循环速度条件下的循环寿命,外推器件正常工作条件下的循环寿命。得到了LD组件可靠性数据,为工艺设计人员提出量化数据。
关键词
半导体激光器组件
高低温循环寿命
寿命
数学模型
Keywords
semiconductor laser diode module
high-low temperature cycle lifetime
mathematical model of lifetime
分类号
TN312.8 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
1310nm LD组件高低温循环寿命研究
左昉
苏美开
武金刚
《光学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007
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