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1310nm LD组件高低温循环寿命研究
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作者 左昉 苏美开 武金刚 《光学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第1期77-78,82,共3页
研究了半导体激光二极管(LD)组件的使用寿命。模拟了在不同的环境条件下,对1310 nm LD组件进行了高低温循环寿命实验,建立了循环寿命的数学模型。结果表明:循环寿命与循环的温差、循环的速度成指数关系,通过测试LD组件在高温差、高循环... 研究了半导体激光二极管(LD)组件的使用寿命。模拟了在不同的环境条件下,对1310 nm LD组件进行了高低温循环寿命实验,建立了循环寿命的数学模型。结果表明:循环寿命与循环的温差、循环的速度成指数关系,通过测试LD组件在高温差、高循环速度条件下的循环寿命,外推器件正常工作条件下的循环寿命。得到了LD组件可靠性数据,为工艺设计人员提出量化数据。 展开更多
关键词 半导体激光器组件 高低温循环寿命 寿命数学模型
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