高分辨电子显微学进展及其在材料科学中的应用

简要介绍了高分辨电子显微学的最新进展。主要表现在两个方面：（1）球差校正的高分辨透射电子显微学;（2）原子分辨率的扫描透射电子显微学（或原子序数衬度成像）。两种成像技术均可达到亚埃的分辨率。介绍了这两种技术的各自特点及其在功能材料的微观结构缺陷表征、铁电薄膜的极性确定等方面的应用。随着亚埃分辨率的电子显微学的发展,它必将对材料科学、物理学、纳米科学、化学及生命科学等产生重大的影响。

高分辨率定量电子显微学的发展及其在材料科学中的应用

本文综述了与高分辨率定量电子显微学有关的电子显微镜和相关技术、电子显微术的发展现状及展望、材料结构和缺陷的原子尺度直接观察与计算机模拟综合对比研究以及电镜的三级像散、彗差和薄膜效应等因素影响定量高分辨电子显微学测量结果的研究现状．

研究沸石结构的低剂量高分辨电子显微学方法

介绍了一种研究沸石结构的低剂量高分辨电子显微学方法,该方法可以有效降低电子束对沸石样品的辐照损伤,获得的高分辨像的分辨率优于0.18 nm。提出了降低电子辐照损伤的措施,阐述了低剂量高分辨成像技术的技术要点。

高分辨电子显微学的求逆问题(英文)

本文评述了高分辨电子显微学中一种求逆问题的方法。此法的实质是把衍射晶体学融合到高分辨电子显微学中。文章阐述了显微像衬度随晶体厚度的变化 ,从而说明当晶体厚度小于临界值时 ,可以合理地把建立在运动学衍射理论基础上的衍射分析方法等引用到高分辨电子显微学中 ,使测得晶体结构和缺陷的分辨率远高于电子显微镜的点分辨本领。文章简要地介绍了方法的原理和过程 。

离子减薄后NiAl_3合金相中调制结构的高分辨电子显微学研究

利用像解卷方法对3 keV氩离子减薄后合金相NiAl_3中出现的一维无公度调制结构进行了研究.分析了调制结构的形成机理,提出该调制基本属于成分调制.

生物高分辨电子显微学进展

生物高分辨电子显微学是近年来发展起来的一种可与Ｘ射线晶体学相媲美的测定生物大分子高分辨结构的方法．它克服了一些限制Ｘ射线晶体学应用的困难，可以直接对非晶体状态的生物大分子或仅能形成二维晶体的蛋白进行结构测定．这一技术主要包括高分辨电子显微象的获得与电子显微象解析．文章就这一技术应用中的一些问题：自然结构的保持、辐射损伤、低衬度、低信噪比等进行了讨论．

高分辨电子显微学与电子衍射相结合的图像处理方法

介绍了一种测定晶体结构的图像处理技术，它基于高分辨电子显微学与电子衍射的结合．文中给出了其方法的示意图．

纳米级聚乙烯和聚丙烯微晶的高分辨透射电子显微学研究

用高分辨电子显微学方法对从极稀的二甲苯溶液中得到的纳米级聚乙烯 ( PE)和聚丙烯 ( PP)微晶进行了研究 ,发现这种纳米级微晶是分子堆砌不完善 ,但可以独立存在的一种亚稳态结构 ,其晶格存在着大量的弯曲、分叉、位错等缺陷 ,经热处理后有序程度大大提高 .表明高分辨电子显微学方法是研究 PE和 PP纳米级微晶的亚稳态结构和稳定性的有效手段 .

熔体结晶聚乙烯晶体的高分辨电子显微学研究

The high resolution transmission electron micrographs(HRTEM) of lamellar crystal of polyethylene(PE) obtained from the melt were successfully obtained by using high resolution electron microscopy,although PE is a relatively irradiation sensitive polymer.The HRTEM images with a clear one-dimensional structure(reported) here were recorded in a transmission electron microscope(TEM) operated at 200 kV.The spacing(between) the fringes was found to be 0.37 nm,which is close to the d-spacing of(200) plane. Micrographs image were processed by using optical filtering methods to improve the signal-to-noise ratio.

钇易解石的高分辨电子显微学研究

本文利用EM-430分析透射电子显微镜研究了内蒙古斑岩型稀有金属矿床中的天然量质钇易解石。电子衍射分析表明该矿物系斜方晶系,其晶胞常数为:a=5.22,b=10.92,c=7.44。同时摄取了Z轴方向及X轴方向投影的高分辨结构象。结构象与由X射线结构分析导出的人工晶质易解石结构模型中重原子排列吻合得很好。

GaN场发射高分辨电子显微像的图像处理显示GaN中原子分辨率晶体缺陷的可能性

本文介绍了场发射高分辨电子显微像的图像处理原理．用３００ｋＶ场发射电子显微镜的参数模拟了ＧａＮ完整晶体和缺陷晶体结构模型的显微像．经过处理的显微像上能够分辨间距为０．１１２ｎｍ的Ｇａ和Ｎ原子,并能显示Ｎ原子空位．

场发射高分辨电子显微像的复原

本文讨论了弱相位物体近似的实际应用范围，在此基础上对场发射高分辨电子显微像作了解卷处理。说明通过处理可以从像上看到分辨率接近电子显微镜信息分辨极限的结构细节。

高分辨电子显微像图像处理技术的应用

对高分辨电子显微像图像处理技术进行了比较详细的分类。简要分析了在测定晶体结构的过程中,高分辨电子显微像与图像处理技术相结合的必要性。论述了尝试法、出射波重构法和解卷技术3种主要的图像处理方法,介绍了该类图像处理技术应用于材料学研究中的典型事例,并讨论了其应用范围、前景及其局限性。

表面的高分辨电子显微平面像的模拟

本文全面讨论了多层法用于表面的高分辨电子显微平面像模拟计算中的各种影响因素以及需要注意的技术细节。包括光阑大小、欠焦量、样品厚度、色差与束发散度、吸收系数等的影响。

高分辨透射电子显微镜的原位实验综述

高分辨透射电子显微镜(transmission electron microscopy,TEM)原位实验是在纳米乃至皮米尺度上实时研究物质在不同场环境中的原子和电子结构变化、探寻材料在使役条件下性能根源的一类实验研究方法,在基础科学探索与产业技术研发的源头创新中起着不可或缺的作用.本文详细介绍了高分辨透射电镜原位实验研究的技术原理以及应用进展.按照原位电镜实验实现手段进行分类,概述原位电子束照射、环境透射电镜、四维超快电镜、原位加热、加电、力学、光学、液体、气体样品杆等各类高分辨原位电镜实验的实验技术、原理以及应用的最新进展.随着技术的进步,高分辨原位电镜实验正向着芯片化、复合化和定量化的方向发展,而目前所遇到的电子束、磁场的干扰以及成像速度问题相信在不远的将来会得到解决.

(001)Si衬底上La_(0·9)Sr_(0·1)MnO_3/SrTiO_3外延生长薄膜的界面电子显微学研究

本文利用高分辨电子显微术、电子能量损失谱和电子全息技术对Si基体上生长的SrTiO3(STO)和La0.9Sr0.1MnO3(LSMO)薄膜及其STO层和Si基体之间的界面结构进行了深入研究,结果表明在Si和STO层之间由于氧扩散会形成一层过渡的SiOx无序层,且随沉积条件不同界面原子无序层厚度稍有不同;选区电子衍射结果表明薄膜和基体之间的外延生长关系为[001]LSMO//[110]Si,[110]LSMO//[001]Si[001]STO//[001]Si,[010]STO//[110]Si;电子能量损失谱分析表明界面无序层中Si离子的氧化态处于Si2+和Si0之间;电子全息结果清晰地显示了基体与薄膜之间存在明显的相位和势垒变化,负电荷聚集在界面SiOx的无序层中。