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Au和Fe二十面体的高分辨透射电子显微像模拟与应变分析 被引量:1
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作者 郑翔 于荣 +2 位作者 谢琳 吴浩 朱静 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2011年第4期428-434,共7页
像差校正在透射电子显微镜中的实现不仅提高了高分辨透射电镜的分辨率,也使人们得以直接测量材料中的原子构型。二十面体是金属与合金催化剂颗粒所具有的一种典型的结构形式,可看作由二十个四面体组成多重孪晶结构。它们在任何一个方向... 像差校正在透射电子显微镜中的实现不仅提高了高分辨透射电镜的分辨率,也使人们得以直接测量材料中的原子构型。二十面体是金属与合金催化剂颗粒所具有的一种典型的结构形式,可看作由二十个四面体组成多重孪晶结构。它们在任何一个方向的投影都是两个或更多四面体的叠加,这使得它们的高分辨图像的解释变得困难。本研究构建了9种不同条件下的二十面体小颗粒模型,利用多片层法模拟颗粒的高分辨透射电子显微图像。通过对比高分辨电镜模拟像的定量分析结果与相应的结构模型,结果表明要获得精确的定量分析结果,有必要选择合适的分析区域。在特定区域,晶面间距的测量误差约2%~4%;而在其它区域,误差可达8%~10%。 展开更多
关键词 分辨电子显微 图像模拟 应变分析 二十面体
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蘼芜水热合成碳量子点的透射电子显微镜结构表征
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作者 孙晶莹 郭琳娜 +2 位作者 董鑫 黄烘 梁超伦 《分析测试技术与仪器》 CAS 2024年第3期161-165,共5页
运用透射电子显微镜技术(transmission electron microscopy,TEM)观察分析了以植物蘼芜为碳源,通过水热法合成的CQDs(carbon quantum dots,CQDs)的结构.针对TEM明场像中CQDs衬度弱而难以观察的问题,利用高角环形暗场扫描透射技术(high a... 运用透射电子显微镜技术(transmission electron microscopy,TEM)观察分析了以植物蘼芜为碳源,通过水热法合成的CQDs(carbon quantum dots,CQDs)的结构.针对TEM明场像中CQDs衬度弱而难以观察的问题,利用高角环形暗场扫描透射技术(high angle annular dark field-scanning transmission electron microscopy,HAADF-STEM)在铜网中快速定位CQDs.相应区域的明场像显示CQDs形貌为不规则多边形,尺寸约3 nm.通过高分辨透射电子显微镜技术(HRTEM)及相应的快速傅里叶变换(fast Fourier transform,FFT),观察到具有六次对称性的晶格条纹(0.21 nm)和衍射斑点,以及石墨π键的层间距(0.34 nm),讨论了CQDs特征晶面指数的指标化方法.晶格结构分析结果表明,CQDs为晶态六方相类石墨烯结构. 展开更多
关键词 植物碳源 碳量子点 分辨透射电子显微
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透射电子显微镜空间分辨率综述 被引量:2
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作者 尹美杰 健男 +1 位作者 张熙 刁东风 《深圳大学学报(理工版)》 CAS CSCD 北大核心 2023年第1期1-13,共13页
透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)具有超高的空间分辨率,是化学、材料科学、物理学、生物科学等领域最重要的研究手段之一.影响TEM空间分辨率的因素众多,不仅包括电镜自身结构和成像原理等,还有样品性质等原因.为... 透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)具有超高的空间分辨率,是化学、材料科学、物理学、生物科学等领域最重要的研究手段之一.影响TEM空间分辨率的因素众多,不仅包括电镜自身结构和成像原理等,还有样品性质等原因.为系统且全面地了解TEM分辨率的涵义、原理与应用,本文通过回顾TEM空间分辨率的发展历史,从理论上厘清了TEM空间分辨率的概念、物理涵义、影响因素和适用范围;从电镜装置角度,分别概述了电子枪、磁透镜、图像探测器和电镜内外部环境对空间分辨率的影响规律,以及单色器、像差校正器和新型图像探测器的发展现状;从实际应用角度,重点介绍了样品过厚、电子束损伤、积碳和原子振动等降低空间分辨率的作用机理及解决途径.本文可为非电子显微学研究者们正确使用TEM提供参考. 展开更多
关键词 纳米科学与技术 透射电子显微 空间分辨 单色器 像差校正 图像探测器 厚样品 电子束敏感 积碳 原子振动
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透射电子显微术和高分辨X射线衍射技术研究AlN单晶生长习性 被引量:5
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作者 李娟 胡小波 +2 位作者 高玉强 王翎 徐现刚 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第5期1117-1120,共4页
采用透射电子显微术和高分辨X射线衍射技术对氮化硼坩埚中自发成核的AlN单晶生长习性进行了研究。结果表明,在低温下,AlN单晶显露面为(0001)面,随着温度的升高,AlN单晶显露面转化为(112-0)面。沟槽结构是高温下得到的AlN单晶共有的显著... 采用透射电子显微术和高分辨X射线衍射技术对氮化硼坩埚中自发成核的AlN单晶生长习性进行了研究。结果表明,在低温下,AlN单晶显露面为(0001)面,随着温度的升高,AlN单晶显露面转化为(112-0)面。沟槽结构是高温下得到的AlN单晶共有的显著特征,其取向沿[0001]方向。 展开更多
关键词 透射电子显微 分辨X射线衍射仪 AlN单晶
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用高分辨透射电子显微技术研究0.94(Na_(1/2)Bi_(1/2))TiO_3–0.06BaTiO_3的有序结构 被引量:1
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作者 刘云飞 吕忆农 +1 位作者 施书哲 徐明 《硅酸盐学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第6期776-782,共7页
用高分辨透射电子显微技术(high resolution transmission electron microscopy,HRTEM)和选区电子衍射(selected area electron diffraction,SAED)技术对具有A位复合钙钛矿结构的0.94(Na1/2Bi1/2)TiO3(BNT)–0.06BaTiO3(BNBT6)陶瓷的显... 用高分辨透射电子显微技术(high resolution transmission electron microscopy,HRTEM)和选区电子衍射(selected area electron diffraction,SAED)技术对具有A位复合钙钛矿结构的0.94(Na1/2Bi1/2)TiO3(BNT)–0.06BaTiO3(BNBT6)陶瓷的显微结构进行了深入研究。沿[001],[011]和[111]3个晶带轴方向的SAED花样分析结果表明:A位Bi3+和Na+可以形成2种不同的有序结构——1/2{110}和1/2{111}超结构。据此,建立了BNT的1/2{110}和1/2{111}有序结构模型,其中1/2{110}型有序是由Bi3+层和Na+层沿[110]方向交替排列而形成,1/2{111}型有序是由Bi3+层和Na+层沿[111]方向交替排列而形成。利用多层法,通过计算机模拟了1/2{111}有序结构沿[001],[011]和[111]3个方向的HRTEM像,与实验拍摄的HRTEM像对照,验证了所建立的1/2{111}有序结构模型的正确性。同时,采用快速Fourier变换(fast Fourier transformation,FFT)技术,由1/2(330)和1/2(330)超晶格反射斑点获得的一维晶格像,揭示了沿[110]方向局部Bi3+层和Na+层扭曲导致的位错和反相畴界(anti-phase boundary,APB),APB的存在表明结构中存在着Bi3+层和Na+层沿[110]方向的交替排列,证实BNBT6中存在着1/2{110}有序结构。BNBT6有序结构的HRTEM研究表明:A位Bi3+和Na+的化学有序是导致超晶格反射的主要原因。 展开更多
关键词 钛酸铋钠–钛酸钡 有序结构 分辨透射电子显微 计算机模拟
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JEM—2100高分辨透射电子显微镜的使用注意事项 被引量:1
6
作者 姚美焕 董文佩 孙东 《内江科技》 2014年第2期97-97,共1页
JEM-2100高分辨透射电子显微镜具有非常高的分辨本领,最大放大倍数为150万倍,是研究材料微观结构的重要工具。本文在笔者多年来管理经验的基础上介绍了此款仪器的使用注意事项,以期对同行有借鉴作用。
关键词 分辨透射电子显微 使用注意事项 分辨本领 放大倍数 微观结构 管理经验 材料
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纳米级聚乙烯和聚丙烯微晶的高分辨透射电子显微学研究 被引量:1
7
作者 陈剑峰 尹丽 +1 位作者 周云春 周恩乐 《高等学校化学学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2004年第4期766-769,共4页
用高分辨电子显微学方法对从极稀的二甲苯溶液中得到的纳米级聚乙烯 ( PE)和聚丙烯 ( PP)微晶进行了研究 ,发现这种纳米级微晶是分子堆砌不完善 ,但可以独立存在的一种亚稳态结构 ,其晶格存在着大量的弯曲、分叉、位错等缺陷 ,经热处理... 用高分辨电子显微学方法对从极稀的二甲苯溶液中得到的纳米级聚乙烯 ( PE)和聚丙烯 ( PP)微晶进行了研究 ,发现这种纳米级微晶是分子堆砌不完善 ,但可以独立存在的一种亚稳态结构 ,其晶格存在着大量的弯曲、分叉、位错等缺陷 ,经热处理后有序程度大大提高 .表明高分辨电子显微学方法是研究 PE和 PP纳米级微晶的亚稳态结构和稳定性的有效手段 . 展开更多
关键词 聚乙烯 聚丙烯 纳米级微晶 分辨透射电子显微 亚稳态结构 稳定性
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高分辨透射电子显微镜的原位实验综述 被引量:2
8
作者 健男 尹美杰 +1 位作者 张熙 刁东风 《深圳大学学报(理工版)》 CAS CSCD 北大核心 2021年第5期441-452,共12页
高分辨透射电子显微镜(transmission electron microscopy,TEM)原位实验是在纳米乃至皮米尺度上实时研究物质在不同场环境中的原子和电子结构变化、探寻材料在使役条件下性能根源的一类实验研究方法,在基础科学探索与产业技术研发的源... 高分辨透射电子显微镜(transmission electron microscopy,TEM)原位实验是在纳米乃至皮米尺度上实时研究物质在不同场环境中的原子和电子结构变化、探寻材料在使役条件下性能根源的一类实验研究方法,在基础科学探索与产业技术研发的源头创新中起着不可或缺的作用.本文详细介绍了高分辨透射电镜原位实验研究的技术原理以及应用进展.按照原位电镜实验实现手段进行分类,概述原位电子束照射、环境透射电镜、四维超快电镜、原位加热、加电、力学、光学、液体、气体样品杆等各类高分辨原位电镜实验的实验技术、原理以及应用的最新进展.随着技术的进步,高分辨原位电镜实验正向着芯片化、复合化和定量化的方向发展,而目前所遇到的电子束、磁场的干扰以及成像速度问题相信在不远的将来会得到解决. 展开更多
关键词 纳米科学与技术 分辨透射电子显微 原位实验 环境透射电镜 四维超快电镜 原位样品杆
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普通冷冻透射电子显微镜表征LiPxSy类固态电解质高分辨像的方法 被引量:1
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作者 李小菊 隋海燕 王延涛 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2022年第3期308-314,共7页
本文采用配备冷冻样品杆的普通透射电子显微镜,探索固态电池中LiPS类电解质材料的物相结构和高分辨晶格像的表征方法。LiPS类电解质具有很高的导离子率,是理想的固态电解质材料,但该类电解质性质敏感,对空气的不稳定性导致其任何处理均... 本文采用配备冷冻样品杆的普通透射电子显微镜,探索固态电池中LiPS类电解质材料的物相结构和高分辨晶格像的表征方法。LiPS类电解质具有很高的导离子率,是理想的固态电解质材料,但该类电解质性质敏感,对空气的不稳定性导致其任何处理均需要惰性气体环境。试验探索表明,利用在全程液氮中冷冻转移的手段,可以有效保留LiPS类电解质材料的物相,但受样品表面凝结冰的影响,冷冻低剂量(low dose)模式很难获得高分辨晶格像。通过冷冻杆升温(升温过程中冷冻杆shutter需呈打开状态)、而后常温表征的手段,成功获得了LiPS类电解质材料较理想的高分辨晶格像。 展开更多
关键词 冷冻 透射电子显微 固态电池电解质 分辨晶格像
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像差校正高分辨透射电子显微术及其在表征功能氧化物材料结构及界面中的应用
10
作者 米少波 贾春林 《中国材料进展》 CAS CSCD 北大核心 2017年第7期566-574,共9页
简要介绍基于像差校正高分辨透射电子显微镜的负球差成像技术及其在研究功能氧化物材料原子构型中的应用。在亚埃尺度的空间分辨率下,负球差成像技术不但可以获得高衬度的原子尺度结构像,而且可以在皮米精度测量材料中的原子的相对位移... 简要介绍基于像差校正高分辨透射电子显微镜的负球差成像技术及其在研究功能氧化物材料原子构型中的应用。在亚埃尺度的空间分辨率下,负球差成像技术不但可以获得高衬度的原子尺度结构像,而且可以在皮米精度测量材料中的原子的相对位移,从而精确表征材料结构、晶格缺陷的细微变化及其对材料性能的影响。负球差成像技术为定量解析材料中包含轻原子(例如,氧)在内的精细结构问题提供了有力的手段。重点介绍了负球差成像技术在表征铁电材料电偶极矩、畴结构及畴壁,氧化物异质界面和三维Mg O晶体表面精细结构中的应用。 展开更多
关键词 界面 显微结构 氧化物 像差校正分辨透射电子显微 负球差成像术
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铝锂合金显微组织高分辨电子显微研究 被引量:1
11
作者 袁志山 张显峰 +3 位作者 冯朝辉 陆政 戴圣龙 刘常升 《冶金分析》 CAS CSCD 北大核心 2011年第4期35-38,共4页
以新型高强铝锂合金(Al-Cu-Li)为研究对象,合金经过520℃固溶淬火后分别在165℃时效6 h和165℃时效18 h,然后采用高分辨电子显微镜观察Al-Cu-Li铝锂合金显微组织中δ′相和T1相的形貌和晶格像,研究了主要强化相T1相的形核机制。结果表明... 以新型高强铝锂合金(Al-Cu-Li)为研究对象,合金经过520℃固溶淬火后分别在165℃时效6 h和165℃时效18 h,然后采用高分辨电子显微镜观察Al-Cu-Li铝锂合金显微组织中δ′相和T1相的形貌和晶格像,研究了主要强化相T1相的形核机制。结果表明:单胞T1相为五层密排六方堆垛结构,T1相的化学堆垛次序为CBABC。观察发现T1相既可以单独在基体形核生长,也可以依附在原有的T1相上形核以台阶方式生长。细小的球形析出相δ′相为有序结构相,并且与基体共格。 展开更多
关键词 分辨透射电子显微 铝锂合金 显微组织 时效
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高分辨电子显微学进展及其在材料科学中的应用 被引量:7
12
作者 王乙潜 梁文双 《实验技术与管理》 CAS 北大核心 2010年第3期25-28,共4页
简要介绍了高分辨电子显微学的最新进展。主要表现在两个方面:(1)球差校正的高分辨透射电子显微学;(2)原子分辨率的扫描透射电子显微学(或原子序数衬度成像)。两种成像技术均可达到亚埃的分辨率。介绍了这两种技术的各自特点及... 简要介绍了高分辨电子显微学的最新进展。主要表现在两个方面:(1)球差校正的高分辨透射电子显微学;(2)原子分辨率的扫描透射电子显微学(或原子序数衬度成像)。两种成像技术均可达到亚埃的分辨率。介绍了这两种技术的各自特点及其在功能材料的微观结构缺陷表征、铁电薄膜的极性确定等方面的应用。随着亚埃分辨率的电子显微学的发展,它必将对材料科学、物理学、纳米科学、化学及生命科学等产生重大的影响。 展开更多
关键词 分辨电子显微 功能材料 微观结构缺陷 铁电极性
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美国制造成功分辨率最高的扫描/透射电子显微镜
13
《金属功能材料》 CAS 2005年第4期30-30,共1页
美国Hillsboro的FEI公司新近制造成功了据说是当前世界上分辨能力最高的扫描/透射电子显微镜,该显微镜是在美国政府部门(U.S.Department of Energy’s Office of Basic Energy Sciences)资助的一项数百万美元的显微镜研制项目,... 美国Hillsboro的FEI公司新近制造成功了据说是当前世界上分辨能力最高的扫描/透射电子显微镜,该显微镜是在美国政府部门(U.S.Department of Energy’s Office of Basic Energy Sciences)资助的一项数百万美元的显微镜研制项目,通过这种显微镜能够直接观察和分析大约为碳原子直径1/3大小(即0.5A)尺寸的纳米结构。在这一研究开发项目中, 展开更多
关键词 透射电子显微 美国 扫描 制造 分辨 OFFICE Basic 分辨能力 政府部门
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高分辨电子显微像的解卷处理程序:DEC 被引量:3
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作者 万威 唐春艳 +3 位作者 王迪 何万中 王怀斌 李方华 《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期374-374,共1页
关键词 分辨 电子显微 DEC 处理程序 晶体厚度 晶体结构 解卷处理 计算机程序 程序应用
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GaN场发射高分辨电子显微像的图像处理显示GaN中原子分辨率晶体缺陷的可能性 被引量:3
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作者 王怀斌 李方华 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第6期589-592,共4页
本文介绍了场发射高分辨电子显微像的图像处理原理.用300kV场发射电子显微镜的参数模拟了GaN完整晶体和缺陷晶体结构模型的显微像.经过处理的显微像上能够分辨间距为0.112nm的Ga和N原子,并能显示N原子空位.
关键词 GAN 晶体缺陷 分辨电子显微 场发射电子显微 解卷处理
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场发射高分辨电子显微像的复原 被引量:3
16
作者 李方华 何万中 《电子显微学报》 CAS CSCD 1997年第3期177-181,共5页
本文讨论了弱相位物体近似的实际应用范围,在此基础上对场发射高分辨电子显微像作了解卷处理。说明通过处理可以从像上看到分辨率接近电子显微镜信息分辨极限的结构细节。
关键词 分辨 电子显微 电镜 场发射
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Sr_2CuO_(3+x)无公度调制结构的高分辨电子显微学研究 被引量:1
17
作者 葛炳辉 李方华 +1 位作者 刘清青 靳常青 《电子显微学报》 CAS CSCD 2005年第4期373-373,共1页
关键词 分辨电子显微 无公度调制结构 电子显微 超导化合物 平均处理 结构模型 解卷处理 超结构
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扫描透射电子显微镜(STEM)在新一代高K栅介质材料的应用 被引量:1
18
作者 朱信华 李爱东 刘治国 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2014年第12期1233-1240,共8页
扫描透射电子显微镜(STEM)原子序数衬度像(Z-衬度像)具有分辨率高(可直接"观察"到晶体中原子的真实位置)、对化学组成敏感以及图像直观易解释等优点,成为原子尺度研究材料微结构的强有力工具。本文介绍了STEM Z-衬度像成像原... 扫描透射电子显微镜(STEM)原子序数衬度像(Z-衬度像)具有分辨率高(可直接"观察"到晶体中原子的真实位置)、对化学组成敏感以及图像直观易解释等优点,成为原子尺度研究材料微结构的强有力工具。本文介绍了STEM Z-衬度像成像原理、方法及技术特点,并结合具体的高K栅介质材料(如铪基金属氧化物、稀土金属氧化物和钙钛矿结构外延氧化物薄膜)对STEM在新一代高K栅介质材料研究中的应用进行了评述。目前球差校正STEM Z-衬度的像空间分辨率已达亚埃级,该技术在高K柵介质与半导体之间的界面微结构表征方面具有十分重要的应用。对此,本文亦进行了介绍。 展开更多
关键词 扫描透射电子显微 Z-衬度STEM像 K柵介质材料 界面微结构 综述
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REW软件--高分辨电子显微镜的像模拟与出射波函数重构的应用软件 被引量:1
19
作者 林芳 潘哲朗 陈江华 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期193-199,共7页
通过像处理技术分析高分辨电子显微像有助于确定样品结构,提高显微镜的分辨率。本文开发的REW软件同时具有HRTEM像模拟与波函数重构的功能。用户可通过像模拟法来确定已知晶体的结构,另一方面,用户可利用系列离焦的HRTEM像重构样品的出... 通过像处理技术分析高分辨电子显微像有助于确定样品结构,提高显微镜的分辨率。本文开发的REW软件同时具有HRTEM像模拟与波函数重构的功能。用户可通过像模拟法来确定已知晶体的结构,另一方面,用户可利用系列离焦的HRTEM像重构样品的出射波函数,从而得到重要的相位信息并提高样品的分辨率。本文将简单介绍REW软件所运用的理论知识,并列举典型例子来描述REW软件的重要功能。 展开更多
关键词 分辨电子显微 应用软件 像模拟 出射波重构 像处理
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高分辨率定量电子显微学的发展及其在材料科学中的应用 被引量:3
20
作者 李斗星 《材料研究学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第5期449-464,共16页
本文综述了与高分辨率定量电子显微学有关的电子显微镜和相关技术、电子显微术的发展现状及展望、材料结构和缺陷的原子尺度直接观察与计算机模拟综合对比研究以及电镜的三级像散、彗差和薄膜效应等因素影响定量高分辨电子显微学测量结... 本文综述了与高分辨率定量电子显微学有关的电子显微镜和相关技术、电子显微术的发展现状及展望、材料结构和缺陷的原子尺度直接观察与计算机模拟综合对比研究以及电镜的三级像散、彗差和薄膜效应等因素影响定量高分辨电子显微学测量结果的研究现状. 展开更多
关键词 定量 分辨 电子显微 原子尺度 材料科学
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