高加速应力筛选在某航空电子设备上的应用

目前筛选效率更高的高加速应力筛选方法已经被应用在了很多民用电子产品中,但是由于民机航电产业在国内起步较晚,缺乏相关经验参考,因而其还未被广泛地应用于航电设备上。基于国内外高加速应力筛选的相关标准等文献,结合民机航电设备的特点,详细地介绍了高加速应力筛选方法在某民机航电设备上的应用,对于其他民航电设备高加速应力试验的开展具有一定的参考意义。

基于高加速应力筛选的电子产品筛选剖面研究

为了提升产品和工艺设计的质量,主要是为消除初期产品的失效率从而提高其平均无故障时间,进一步地节约产品成本,基于高加速应力筛选的剖面设计理论要求,针对电子产品通过具体失效分析和试验剖面设计优化,给出电子产品高加速应力筛选的一般性筛选剖面条件,可以作为各电子产品进行高加速应力筛选的参考依据,提升其筛选试验效率。

高加速寿命试验(HALT)与高加速应力筛选(HASS)

本文简要介绍了HALT/HASS试验技术的产生、发展及在国外的应用情况 ,在深入分析HALT/HASS试验技术基本原理和环境应力与诱发的故障模式之间关系的基础上 ,阐述了HALT/HASS试验技术的核心———试验剖面图的建立方法 ,并对HALT/HASS试验技术的特点。

高加速应力试验及极限应力试验综述

介绍了高加速应力试验(HAST)及极限应力试验(limit test)的基本概念和相关背景,列举了当前国内外一些常用的技术方法、工程应用状况、试验模型及分析方法、试验剖面的建立及失效机理的确定等。指出了高加速应力试验及极限应力试验要注意的问题,并对它们的发展动向作了简单的预测。

电子产品高加速应力筛选的应用探讨

本文论述了电子产品高加速应力筛选试验的流程和方法,包括高加速应力筛选试验剖面设计和筛选验证等,并将该试验方法在某机载惯导产品进行了应用。这一方法对于其他机载电子产品的高加速筛选工作有一定的指导意义。

高加速应力筛选剖面验证技术分析

高加速应力筛选试验(HASS)技术是近年来不断发展起来的可靠性新技术,其工作原理、试验目的、应力要求等与传统的可靠性试验有所不同,是考核与提高产品质量与可靠性的强有力的工具。本文就HASS试验技术基本原理和环境应力与诱发的故障模式之间关系进行了简要分析,重点阐述了HASS试验技术的核心之一—筛选剖面图的验证技术,并对HASS剖面验证技术的特点、所需资源和其它的相关内容作了说明。

高加速应力试验及其与传统试验的比较

阐述了高加速应力试验(即高加速寿命试验和高加速应力筛选)的目的和用途,以及用于强化设计的基本过程,指出了高加速应力试验的应力多样性、高加速性和不能评估可靠性等特性。并就试验目的,试验属性,试验应力及其确定依据,试验方案和试验时间,以及追求的最终结果等方面与传统试验进行了全面的比较,凸显了其在提高产品环境适应性和可靠性方面的明显优势。

高加速应力试验的优点及其应用

阐述了高加速应力试验的本质是通过施加远超过产品设计规范规定的各种应力,快速地将产品内部的薄弱环节和缺陷激发出来,为改进设计和剔除早期故障提供信息。高加速应力试验的优点是可以得到高可靠的产品,且大大缩短产品研制进度和降低成本。列举了国外各公司在电子、机电、机械等设备上成功应用取得的效果,最后指出了影响这一技术推广应用的各种错误观念和认识。

高加速应力筛选定量评价的应用探讨

以某航空电子产品为对象,尝试通过HASS等效转化为传统筛选的方法进行筛选定量评价,探讨一套基于GJB/Z 34-1993,而且易以工程实施的HASS筛选定量评估方法,为军工电子产品批产可靠性控制应用新技术提供借鉴。

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述

高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术。就HALT&HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT&HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项。

高加速应力筛选(HASS)概述

高加速应力筛选(HASS)是一种新兴的试验技术,用于产品的生产阶段。在暴露和剔除产品的制造 和工艺缺陷、提高可靠性、降低野外失效和返修率等方面非常有效。从研究开发HASS的背景出发,介绍了 HASS的目的及作用,重点探讨了高加速的基本原理、典型的HASS过程。

高加速应力筛选试验中惯性器件性能建模与一致性测试(英文)

针对高加速应力筛选(High Accelerated Stress Screening)试验中对受试产品剩余寿命的要求,在惯性器件剩余寿命降低到一定程度后其性能会发生变化的前提下,提出了一种考核惯性产品寿命受高加速应力影响的方法。首先在高加速应力筛选试验前测试惯性器件的关键性能,以信噪比(SNR)和相关度(ρ)为评价原则利用自回归(Auto Regressive)方法对性能指标测试参数进行建模,确定最优模型阶数;使用Burg方法计算AR模型系数。在惯性器件经受了高加速应力筛选试验后测试惯性器件的性能参数,利用Chow检验方法对加速应力筛选试验前后的性能测试参数进行检验,在一定置信度条件下考察性能参数是否发生了显著性变化,进而对高加速应力筛选试验是否影响惯性器件的剩余寿命进行判定。最后通过某型加速度计高加速应力试验进行了验证。

高加速应力筛选（HASS）的应用

阐述了国外高加速应力筛选（HASS）的应用对象、HASS应力的确定原则和具体方法以及HASS设备，讨论了HASS和高加速寿命试验（HALT）这二种加速应力试验与用传统剪裁原理设计的环境和可靠性试验的关系及其应用前景。

用于环境适应性验证的高加速应力试验

对于一些高健壮水平的信息化电子设备,由于产品环境裕度很大,采用常规环境模拟试验技术很难验证出产品的环境适应性水平,也无法知道产品的环境健壮裕度。基于此,提出了一种高效率的用于环境适应性验证的加速应力试验技术,将当前环境适应性试验"通过或不通过"的符合性验证现状,发展到装备环境适应性水平的定量评估层次,来验证产品的环境裕度。从用于环境适应性验证的加速应力试验的理论出发,阐述加速应力试验的依据、前提、应力种类、方案设计等几方面内容,力争为改变我国在装备研制中根据标准和规范确定产品环境试验项目、试验条件的被动状态提供一点解决思路。

高加速应力试验用于倒装焊领域

倒装焊技术已被广泛地用于电子领域。对倒装焊而言,其焊点的可靠性、密封填充物与芯片或基板间的分层一直是特别重要的课题。介绍了一种加速环境试验——HAST,用于快速评价倒装焊接在FR-4基板上面阵列分布焊点的可靠性,试验结果说明HAST能够作为一个有效的可靠性试验评价工具用于倒装焊技术领域。

高加速应力筛选试验技术研究

简要介绍了高加速应力筛选试验技术的产生、发展及在国外的应用情况,在分析高加速应力筛选试验技术基本原理的基础上,研究了高加速应力筛选试验技术的核心———试验剖面图的建立方法,并对高加速应力筛选试验技术的特点及如何开展试验等作了相关分析,最后进行了总结和问题讨论。

高密度封装IC的高加速应力试验研究

采用在线监测技术对高密度封装IC样品进行温度步进试验、温度循环试验和振动步进试验等高加速应力试验,确定了产品的耐受应力极限,验证了本试验方案和试验监测技术的有效性和可行性。通过失效分析,确定了高加速应力下电路的失效模式和失效机理。结果表明：高密度塑封IC元件在高加速温循应力下比在随机振动应力下失效更为集中,温循试验在-65~165℃温度范围内,失效显著且集中在3个循环以内,主要包括塑封料和引线框架、基板的分层以及内键合点脱离,样品耐受随机振动量级超过50grms。研究结果可为器件级高加速应力试验研究提供参考。

高加速寿命试验和高加速应力筛选技术综述

介绍高加速寿命试验和高加速应力筛师技术的概念、测试步骤,并举例说明HALT和HASS试验箱的性能指标和详细参数、HALT和HASS试验系统的校准方法及注意事项。

基于特种计算机的高加速应力可靠性评估方法

本文介绍了一种针对地铁、高铁、普铁、城铁应用时,作为车载服务器向车厢内部解码器传送多媒体视频流或作为视频记录服务器的信息处理系统的高应力快速评估方法,由于其系统工作在地上和地下,其中的环境应力变化较大,温度、振动等应力随机性施加,环境恶劣;而普通的Burning测试由于施加应力等级较低,耗时较长,已经很难满足快速有效的激发早期失效和潜在性缺陷的目的,而高加速应力试验具有快速高效的缺陷激发能力,可以实现有效的发现产品设计问题的目的。

电路板的高加速应力筛选仿真设计技术研究

针对某型电路板高加速应力筛选剖面设计中耗费大量人力物力的实际情况,结合目前计算机辅助及仿真技术所具有的成本低、周期短、精度高等特点,将高加速应力筛选及计算机仿真技术融合,提出了运用计算机仿真手段来研究产品的高加速应力筛选剖面的方法及基本思路。对剩余有效寿命的预计、缺陷影响以及应力影响等方面进行了研究分析。从而在高加速应力筛选剖面设计信息量的扩充、成本的节省、周期的缩短等方面起到了一定的促进作用。