全回路电阻测试方法在10kV-35kV高压开关柜试验中的应用探讨

开关柜内设备过热严重影响电力系统的运行,本文对开关柜内一次设备产生过热原因进行分析,并基于单个设备直流电阻测试,提出在10k V-35k V高压开关柜试验中应用全回路电阻测试,从而对全回路内一次设备接触情况进行判断,找出导致过热的原因。