支持掉电数据随机化的FLASH仿真器设计

本文提出了一种支持掉电数据随机化的FLASH仿真器设计,通过增加高压期间接口掉电检测、擦写数据随机化等功能,实现了FLASH在高压期间接口掉电写入随机数据的功能。本设计支持FLASH擦、写、读基本操作,满足FLASH擦写后的三种数据情况的软件测试需求。本设计支持芯片的软硬件协同开发,方便程序调试和接口掉电功能测试,提高了软件开发和测试效率。