期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
高可靠性晶体管发辉现象的机理分析与测试安全 被引量：1
1
作者 倪振文 王俊年 +1 位作者 吕振肃 沈洪远 《兰州大学学报（自然科学版）》 CAS CSCD 北大核心 2003年第1期39-42,共4页
通过对高可靠性晶体管 Vcbo击穿特性发辉现象的失效问题的实验对比分析和物理机理的研究 ,找出了产生此现象的直接原因 ,进而通过对晶体管安全工作方面的实验和研究 ,提出解决发辉现象的措施和测试 Vcbo单结特性时应注意的问题 ,确保了... 通过对高可靠性晶体管 Vcbo击穿特性发辉现象的失效问题的实验对比分析和物理机理的研究 ,找出了产生此现象的直接原因 ,进而通过对晶体管安全工作方面的实验和研究 ,提出解决发辉现象的措施和测试 Vcbo单结特性时应注意的问题 ,确保了产品的可靠性 . 展开更多
关键词 高可靠性晶体管 Vcbo击穿特性 发辉现象 安全工作区 物理机理 测试安全
下载PDF
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部