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题名基于电路状态信息和冲突分析的部分扫描设计
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作者
向东
刘鑫
徐奕
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机构
清华大学微电子学研究所
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出处
《电子与信息学报》
EI
CSCD
北大核心
2004年第1期124-130,共7页
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基金
国家自然科学基金(No.69773030)
985国家教委基础研究基金资助课题
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文摘
该文提出了一种割断关键回路的方法来选择扫描触发器。该方法在选择一定数量的扫描触发器后,采用逻辑模拟更新电路的状态信息,这样可以得到更为精确的可测试性信息。当电路中的关键回路割断后,转向消除冲突的处理,而不是降低时序深度。该方法致力于消除冲突,并使用了一种基于冲突分析的测度conflict.足够的实验结果表明该方法是非常有效的。
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关键词
电路状态信息
冲突分析
扫描设计
大规模集成电路
高度时序化
有效状态
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Keywords
Valid state, Partial scan design, Invalid state, Conflict, Testability measure
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分类号
TN47
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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