用复射线法分析高斯型口径辐射的误差特性研究

高斯型口径分布所产生的辐射场可以近似地用复射线法来分析。本文利用从口径辐射平面波谱积分解中所导出的关系，系统地考察了这一近似分析的误差特性。有关结论将有助于正确地理解和运用复射线分析方法。