基于多特征组合的光学元件表面疵病检测

采用目前方法对光学元件表面疵病检测时,由于没有利用光谱原理技术来获取光学元件的表面图像,导致检测方法的检测精度低、图像清晰度低、准确率低和判别正确率低,因此,提出基于多特征组合的光学元件表面疵病检测方法。首先利用光谱原理获取光学元件表面的图像,再结合高斯平滑曲线进行去噪预处理,采用Plessey算法进行角点的提取和匹配完成图像的拼接融合,之后再进行疵病的特征提取,计算疵病所占面积,从而完成光学元件表面疵病检测。实验结果表明,所提方法的检测精度高、图像清晰度高、准确率高和判别正确率高。