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高浓度硼深扩散自停止腐蚀层硅片工艺研究 被引量:2
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作者 唐海林 凌宏芝 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2007年第9期59-61,共3页
为制备用于硅溶片工艺的高浓度硼深扩散自停止腐蚀层硅片,对扩散掺杂工艺进行了研究。结合预淀积和再分布两种条件下扩散的特点,采用两步法工艺制备了高浓度硼深扩散硅片,研究了影响杂质浓度和扩散深度的再分布与预淀积时间比。扩散所... 为制备用于硅溶片工艺的高浓度硼深扩散自停止腐蚀层硅片,对扩散掺杂工艺进行了研究。结合预淀积和再分布两种条件下扩散的特点,采用两步法工艺制备了高浓度硼深扩散硅片,研究了影响杂质浓度和扩散深度的再分布与预淀积时间比。扩散所得硅片的测试结果与理论计算相当吻合,当再分布与预淀积时间比为1.5倍时,扩散结深为21.7μm,自停止腐蚀层为14μm。 展开更多
关键词 电子技术 MEMS 体硅溶片工艺 高浓度硼深扩散 自停止腐蚀 预淀积 再分布
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