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高浓度硼深扩散自停止腐蚀层硅片工艺研究
被引量:
2
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作者
唐海林
凌宏芝
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第9期59-61,共3页
为制备用于硅溶片工艺的高浓度硼深扩散自停止腐蚀层硅片,对扩散掺杂工艺进行了研究。结合预淀积和再分布两种条件下扩散的特点,采用两步法工艺制备了高浓度硼深扩散硅片,研究了影响杂质浓度和扩散深度的再分布与预淀积时间比。扩散所...
为制备用于硅溶片工艺的高浓度硼深扩散自停止腐蚀层硅片,对扩散掺杂工艺进行了研究。结合预淀积和再分布两种条件下扩散的特点,采用两步法工艺制备了高浓度硼深扩散硅片,研究了影响杂质浓度和扩散深度的再分布与预淀积时间比。扩散所得硅片的测试结果与理论计算相当吻合,当再分布与预淀积时间比为1.5倍时,扩散结深为21.7μm,自停止腐蚀层为14μm。
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关键词
电子技术
MEMS
体硅溶片工艺
高浓度硼深扩散
自停止腐蚀
预淀积
再分布
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职称材料
题名
高浓度硼深扩散自停止腐蚀层硅片工艺研究
被引量:
2
1
作者
唐海林
凌宏芝
机构
中国工程物理研究院电子工程研究所
出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第9期59-61,共3页
文摘
为制备用于硅溶片工艺的高浓度硼深扩散自停止腐蚀层硅片,对扩散掺杂工艺进行了研究。结合预淀积和再分布两种条件下扩散的特点,采用两步法工艺制备了高浓度硼深扩散硅片,研究了影响杂质浓度和扩散深度的再分布与预淀积时间比。扩散所得硅片的测试结果与理论计算相当吻合,当再分布与预淀积时间比为1.5倍时,扩散结深为21.7μm,自停止腐蚀层为14μm。
关键词
电子技术
MEMS
体硅溶片工艺
高浓度硼深扩散
自停止腐蚀
预淀积
再分布
Keywords
electron technology
MEMS
bulk silicon dissolved wafer process
deep boron diffusion
etch-stop
pre-deposition process
drive-in process
分类号
TH212 [机械工程—机械制造及自动化]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
高浓度硼深扩散自停止腐蚀层硅片工艺研究
唐海林
凌宏芝
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2007
2
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