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高温硅功率器件所用硅单晶电阻率的选取
被引量:
1
1
作者
潘广问
《襄樊学院学报》
2001年第5期22-24,共3页
在进行高温硅功率器件设计时,为保证器件的温度特性,必须正确、恰当地选取硅单晶电阻率,理论分析与实验相结合,可根据硅功率器件额定结温确定硅单晶电阻率的上限值,根据硅功率器件反向击穿电压确定硅单晶电阻率的下限值,在此基础上,设...
在进行高温硅功率器件设计时,为保证器件的温度特性,必须正确、恰当地选取硅单晶电阻率,理论分析与实验相结合,可根据硅功率器件额定结温确定硅单晶电阻率的上限值,根据硅功率器件反向击穿电压确定硅单晶电阻率的下限值,在此基础上,设计制造了满足坦克用的高温硅功率器件,额定结温达190℃.
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关键词
高温硅功率器件
硅
单晶电阻率
上限值
下限值
半导体
器件
反向击穿电压
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职称材料
题名
高温硅功率器件所用硅单晶电阻率的选取
被引量:
1
1
作者
潘广问
机构
襄樊学院物理系
出处
《襄樊学院学报》
2001年第5期22-24,共3页
文摘
在进行高温硅功率器件设计时,为保证器件的温度特性,必须正确、恰当地选取硅单晶电阻率,理论分析与实验相结合,可根据硅功率器件额定结温确定硅单晶电阻率的上限值,根据硅功率器件反向击穿电压确定硅单晶电阻率的下限值,在此基础上,设计制造了满足坦克用的高温硅功率器件,额定结温达190℃.
关键词
高温硅功率器件
硅
单晶电阻率
上限值
下限值
半导体
器件
反向击穿电压
Keywords
High-temperature silicon power deviles
Resististivity of silicon monocrystalline
Upper limit
Lower limit.
分类号
TN303 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
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作者
出处
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1
高温硅功率器件所用硅单晶电阻率的选取
潘广问
《襄樊学院学报》
2001
1
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