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高压LDMOS导通电阻的高温特性分析
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作者 柯导明 陈军宁 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第8期1111-1113,共3页
本文提出了高压LDMOS的高温等效电路 ,讨论了LDMOS泄漏电流及本征参数在 2 5℃~ 30 0℃范围内随温度变化规律 .根据本文分析 :源漏pn结的反向泄漏电流决定了LDMOS的高温极限温度 ;导通电阻与温度的关系是 (T/T1) y(y为 1 5~ 2 5 ) .
关键词 高压LDMOS 导通电阻 高温等效电路 泄漏电流 本征参数
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高压LDMOS导通电阻的高温特性
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作者 朱德智 柯导明 陈军宁 《安徽电子信息职业技术学院学报》 2002年第2期54-58,共5页
这篇文章提出了高压LDMOS的高温等效电路,并在此基础上讨论了LDMOS泄漏电流及其本征参数在25℃-300℃范围内随温度变化规律。根据本文分析,漏pn结的反向泄漏电流决定了LD-MOS的高温及限温度,导通电阻与温度的关系是(T)Z(Z=1.5~2.5)。
关键词 高压LDMOS 导通电阻 高温等效电路
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