高温超导薄膜器件的计算机数据采集测量系统

用IEEE -4 88总线将电流源、纳伏表和锁相放大器等连接构成一个计算机测量分析系统 ,采用基于Win dows的Labview测量程序 ,可实现对高温超导薄膜器件进行R -T曲线、I -V曲线、X -T曲线等的测量 ,通过AD卡采集数据 ,还可实现SQUIDs器件所测电磁信号的频谱分析 ,测量结果准确可靠 。