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高温MOCVD温度控制系统研究与设计 被引量:3
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作者 林伯奇 何华云 +2 位作者 毛朝斌 魏唯 胡晓宇 《工业控制计算机》 2015年第6期55-56,59,共3页
温度控制技术是MOCVD控制系统关键技术之一,直接影响材料生长的质量。通过对温度控制系统的研究,分析了MOCVD温度控制特点,介绍了一种用于高温MOCVD设备的温度控制系统,着重讨论了温度串级控制及可变斜率控制方法在高温MOCVD设备中的应... 温度控制技术是MOCVD控制系统关键技术之一,直接影响材料生长的质量。通过对温度控制系统的研究,分析了MOCVD温度控制特点,介绍了一种用于高温MOCVD设备的温度控制系统,着重讨论了温度串级控制及可变斜率控制方法在高温MOCVD设备中的应用。该系统控制效果良好,能进行稳定、均匀、高效的温度控制,为高温MOCVD的工艺研究奠下了坚实的基础。 展开更多
关键词 高温mocvd 温度控制系统 串级控制
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高温MOCVD外延生长AlN材料研究 被引量:1
2
作者 程文进 巩小亮 +2 位作者 陈峰武 彭立波 魏唯 《电子工业专用设备》 2017年第4期43-49,共7页
采用自主研制的量产型高温MOCVD设备进行AlN的外延生长,重点研究高温生长对于Al N质量的提升,以及Al N生长速率的控制规律。结果表明:生长温度的提高对于Al N晶体质量的提升和表面粗糙度的减小有着重要影响,而Al N的生长速率受到温度、... 采用自主研制的量产型高温MOCVD设备进行AlN的外延生长,重点研究高温生长对于Al N质量的提升,以及Al N生长速率的控制规律。结果表明:生长温度的提高对于Al N晶体质量的提升和表面粗糙度的减小有着重要影响,而Al N的生长速率受到温度、反应室压力和载气比例的综合影响;经过工艺优化后的Al N外延材料(002)面和(102)面X射线摇摆曲线半高宽分别达到80 arcsec和775 arcsec,表明高温MOCVD生长技术可以实现量产化高质量AlN外延材料的制备。 展开更多
关键词 ALN 高温mocvd 晶体质量 生长速率
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Modbus TCP通讯协议在高温MOCVD控制系统中的应用
3
作者 何华云 林伯奇 胡晓宇 《电子工业专用设备》 2014年第12期27-30,共4页
介绍了四十八所自主研发的高温MOCVD设备及控制系统组成,并介绍了采用Modbus TCP协议实现旋转控制器与温控仪通讯的编程实例。
关键词 MODBUS TCP 高温mocvd 以太网通信协议
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基于MOCVD高/低温调制生长AlN模板材料方法 被引量:1
4
作者 龙长林 陈峰武 陈洪 《电子工艺技术》 2021年第4期232-235,共4页
宽禁带半导体紫外光电器件和功率半导体器件的发展对AlN材料和高Al组分AlGaN材料有着迫切的需求。由于缺乏大尺寸AlN同质衬底,基于异质外延生长的AlN模板材料成为了宽禁带半导体器件制造的最佳选择。但是,由于Al原子表面迁移能力较差,Al... 宽禁带半导体紫外光电器件和功率半导体器件的发展对AlN材料和高Al组分AlGaN材料有着迫切的需求。由于缺乏大尺寸AlN同质衬底,基于异质外延生长的AlN模板材料成为了宽禁带半导体器件制造的最佳选择。但是,由于Al原子表面迁移能力较差,AlN外延材料表面易呈现岛状生长模式,导致AlN模板材料的晶体质量和表面质量较差,严重影响了宽禁带半导体器件的实用化进程。基于自主研制的高温MOCVD设备,采用多周期高/低温调制生长技术,制备出了厚度达2μm的AlN模板材料。测试结果显示:(002)和(102)X-ray摇摆曲线半高宽分别为71arcsec和632arcsec,表面粗糙度RMS(5μm×5μm)达0.39 nm,101.6 mm晶圆膜厚均匀性为2.13%。研究表明基于国产装备生长的AlN模板材料具备较为优异的质量,可为我国新一代半导体产业发展提供有力的支撑。 展开更多
关键词 ALN 高温mocvd 晶体质量 表面质量
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Growth of Cubic GaN by MOCVD at High Temperature
5
作者 付羿 孙元平 +5 位作者 沈晓明 李顺峰 冯志宏 段俐宏 王海 杨辉 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第2期120-123,共4页
High quality cubic GaN (c GaN) is grown by metalorganic vapor deposition (MOCVD) at an increased growth temperature of 900℃,with the growth rate of 1 6μm/h.The full width at half maximum (FWHM) of room temperature... High quality cubic GaN (c GaN) is grown by metalorganic vapor deposition (MOCVD) at an increased growth temperature of 900℃,with the growth rate of 1 6μm/h.The full width at half maximum (FWHM) of room temperature photoluminescence (PL) for the high temperature grown GaN film is 48meV.It is smaller than that of the sample grown at 830℃.In X ray diffraction (XRD) measurement,the high temperature grown GaN shows a (002) peak at 20° with a FWHM of 21′.It can be concluded that,although c GaN is of metastable phase,high growth temperature is still beneficial to the improvement in its crystal quality.The relationship between the growth rate and growth temperature is also discussed. 展开更多
关键词 CUBIC GAN mocvd
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