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高温X射线衍射法鉴别珍珠粉及贝壳粉 被引量:3
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作者 邱永鑫 廖杰 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 2014年第3期294-297,共4页
用高温X射线衍射法(XRD)研究了珍珠粉及贝壳粉中碳酸钙的相变过程。结果表明:随着试验温度的升高,上述2种样品均发生文石型向方解石型的相变,但相变程序不同;当温度从室温升至330℃,贝壳粉中方解石的质量分数由0.5%增至25.5%,而珍珠粉... 用高温X射线衍射法(XRD)研究了珍珠粉及贝壳粉中碳酸钙的相变过程。结果表明:随着试验温度的升高,上述2种样品均发生文石型向方解石型的相变,但相变程序不同;当温度从室温升至330℃,贝壳粉中方解石的质量分数由0.5%增至25.5%,而珍珠粉中方解石的质量分数则由5.0%增至8.1%。根据测定温度条件试验并综合考虑其它因素选择测定温度为330℃。试验了珍珠粉和贝壳粉混合样品中碳酸钙的上述2种晶体的相变情况,结果发现:样品中方解石的含量与其混入的贝壳粉含量呈线性关系,表明两者的混合并不影响其相变机制。在相同试验温度条件下,珍珠粉的相变程度明显低于贝壳粉。利用这一现象,可以用高温XRD快速而准确地对珍珠粉和贝壳粉进行鉴别。 展开更多
关键词 高温x射线衍射法 珍珠粉 贝壳粉 鉴别
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Zn-Al系二元相图的研究 被引量:11
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作者 汤宏群 曾建民 +1 位作者 李会玲 司家勇 《特种铸造及有色合金》 CAS CSCD 北大核心 2006年第6期387-389,共3页
利用高温X射线衍射法(XRD)、示差扫描量热分析法(DSC)、热膨胀法(PRD)等方法重新测定ZnAl二元体系相图。在XRD曲线图中β(ZnAl)相的存在,表明存在β(ZnAl)固溶单相区;DSC曲线图表明在274~279℃范围内存在共析相变反应;PRD曲线图表明在... 利用高温X射线衍射法(XRD)、示差扫描量热分析法(DSC)、热膨胀法(PRD)等方法重新测定ZnAl二元体系相图。在XRD曲线图中β(ZnAl)相的存在,表明存在β(ZnAl)固溶单相区;DSC曲线图表明在274~279℃范围内存在共析相变反应;PRD曲线图表明在340℃不存在相变反应。综合XRD、DSC和PRD结果,绘制了部分ZnAl二元体系相图,为高铝锌基合金的实际相变应用提供参考。 展开更多
关键词 ZN-AL合金 高温x射线衍射法(xRD) 示差扫描量热分析(DSC) 热膨胀(PRD)
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Implantation induced defects and electrical properties of Sb-implanted ZnO 被引量:1
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作者 XIE Hui LIU Tong +4 位作者 LIU JingMing CAO Ke Wei DONG ZhiYuan YANG Jun ZHAO YouWen 《Science China(Technological Sciences)》 SCIE EI CAS CSCD 2015年第8期1333-1338,共6页
Defects in Sb implanted Zn O single crystals have been studied by using photoluminescence(PL) spectroscopy,X-ray diffraction(XRD) and Raman scattering.Electrical properties of the samples were analyzed by Hall effect ... Defects in Sb implanted Zn O single crystals have been studied by using photoluminescence(PL) spectroscopy,X-ray diffraction(XRD) and Raman scattering.Electrical properties of the samples were analyzed by Hall effect measurement.The results indicate that the annealed Sb-implanted sample is n-type with a free electron concentration of the same amplitude as the calculated implantation concentration.The well-known oxygen vacancy related deep level green PL band is suppressed in the as-implanted sample and recovers to the level close to the as-grown Zn O single crystal after annealing.These phenomena suggest that a large portion of as-implanted Sb atoms occupy oxygen lattice site in an unstable state and move to the interstitial site,forming the complex donor defect upon high temperature annealing,resulting in n-type conduction even if the implantation dose is quite high. 展开更多
关键词 ZNO PHOTOLUMINESCENCE Ramam scattering Hall measurement ion implantation DEFECT
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