高灵敏度低能离子散射谱在多相催化研究中的应用

多相催化反应大多在催化剂表层发生,研究催化剂的表面组成、结构、化学态和催化性能之间的关系对于设计、优化工业催化剂具有重要意义.高灵敏度低能离子散射谱(HS-LEIS)既可测定样品(包括粉末及块状样品、导体和半导体等)最外原子层的元素组成和相对含量,又可推断催化剂的表面结构,因此被广泛应用于各类催化反应研究中.本文介绍了HS-LEIS的基本原理,并概述了其在催化研究中的一些应用,包括催化剂表面组成、表面活性位、双金属催化剂表面偏析和表面结构、核壳结构等的研究.同时还对比分析了目前在表面研究中应用广泛的X-射线光电子能谱(XPS)和HS-LEIS表征结果的差异,进一步说明HS-LEIS能够更为准确地获得催化剂表面的真实情况.

低能离子散射谱分析中的荷电效应及中和作用

用低能离子散射谱 (ISS)对比分析了与样品托有良好电接触的和与样品托绝缘的金属银片 .观察到荷电效应对ISS分析有严重影响 .实验还表明在ISS分析时使用低能电子中和枪可以有效地消除荷电效应 。

常用表面分析技术名词英文缩写汉译

AES (Auger Electron Spectroscopy) 俄歇电子谱APS (Appearance Potential Spectroscopy) 出现电势谱ASF (Atomic Sensitivity Factor)