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X射线荧光光谱法测定高盐背景地质样品中的19元素
被引量:
2
1
作者
蔚志毅
薛福林
《化学工程师》
CAS
2020年第4期16-18,共3页
采用粉末压片-X射线荧光光谱法直接测定高盐背景地质类样品的主次量元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、TFe2O3、Cu、Cr、Ba、Nb、Zr、Y、Sr、Pb、Zn),选取国家一级标准物质和人工混配标样建立满足高盐背景地质类样品...
采用粉末压片-X射线荧光光谱法直接测定高盐背景地质类样品的主次量元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、TFe2O3、Cu、Cr、Ba、Nb、Zr、Y、Sr、Pb、Zn),选取国家一级标准物质和人工混配标样建立满足高盐背景地质类样品的分析工作曲线,选取最佳的仪器工作条件和各元素的分析参数,保持标准样品与被分析样品的基体一致性,合理选择分析元素曲线含量梯度,采用经验系数法和康谱顿散射线内标法进行基体校正。
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关键词
高盐背景
人工混配
含量梯度
基体校正
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职称材料
题名
X射线荧光光谱法测定高盐背景地质样品中的19元素
被引量:
2
1
作者
蔚志毅
薛福林
机构
青海省地质矿产测试应用中心
出处
《化学工程师》
CAS
2020年第4期16-18,共3页
基金
青海省重点研发与转化计划项目(No.2019-SF-139)
青海省财政科技专项资金(No.NK20190010)。
文摘
采用粉末压片-X射线荧光光谱法直接测定高盐背景地质类样品的主次量元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、TFe2O3、Cu、Cr、Ba、Nb、Zr、Y、Sr、Pb、Zn),选取国家一级标准物质和人工混配标样建立满足高盐背景地质类样品的分析工作曲线,选取最佳的仪器工作条件和各元素的分析参数,保持标准样品与被分析样品的基体一致性,合理选择分析元素曲线含量梯度,采用经验系数法和康谱顿散射线内标法进行基体校正。
关键词
高盐背景
人工混配
含量梯度
基体校正
Keywords
high salt background
artificial mixing
content gradient
matrix correction
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
X射线荧光光谱法测定高盐背景地质样品中的19元素
蔚志毅
薛福林
《化学工程师》
CAS
2020
2
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