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高空穴浓度Mg掺杂InGaN外延材料性能的研究
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作者 刘乃鑫 王怀兵 +7 位作者 刘建平 牛南辉 张念国 李彤 邢艳辉 韩军 郭霞 沈光地 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2006年第9期4951-4955,共5页
采用金属有机物化学气相沉积方法生长得到具有不同Mg掺杂浓度InxGa1-xN(0≤x≤0.3)外延材料样品.对样品的电学特性和光学特性进行了系统的研究.研究发现在固定Mg掺杂浓度下,随In组分的提高,样品空穴浓度显著提高,最高达2.4×1019cm-... 采用金属有机物化学气相沉积方法生长得到具有不同Mg掺杂浓度InxGa1-xN(0≤x≤0.3)外延材料样品.对样品的电学特性和光学特性进行了系统的研究.研究发现在固定Mg掺杂浓度下,随In组分的提高,样品空穴浓度显著提高,最高达2.4×1019cm-3,Mg的活化效率提高了近两个数量级;通过对Mg掺杂InGaN(InGaNMg)样品的光致发光(PL)谱的分析,解释了InGaNMg样品的载流子跃迁机理,并确定了样品中Mg受主激活能和深施主能级的位置. 展开更多
关键词 Mg掺杂InGaN 高空穴浓度 光致发光 金属有机物化学气相沉积
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