亚像素定位的关键问题研究

分析了控制点标志的选择与设计,采用了图像处理、Hough变换、角点与直线高精度定位算子等方法,实现了中南大学近景摄影测量二维控制场1 350个人工标志点的自动识别和亚像素定位,仿真图检测平均精度达到±0.05像素。

二维控制场中控制点像点坐标亚像素定位的问题研究

分析了控制点标志的选择与设计,采用了图像处理、Hough变换、角点与直线高精度定位算子等方法,实现了中南大学近景摄影测量二维控制场1 350个人工标志点的自动识别和亚像素定位,仿真图检测平均精度达到±0.05 pixel。

相似材料模型中控制点像点坐标定位研究

将近景摄影测量技术用于相似材料模型变形测量是一种新的方法,模型量测的精度主要依赖于定位算法的精度。在此基础上,本文设计了一种应用于相似材料模型的标志,实现了两种算法自动识别该标志,并对结果进行精度比较,得出更适合于相似材料模型的一种算法。