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真空蒸馏制备5N高纯镉片
1
作者
符世继
赵红梅
+1 位作者
李俊仪
陈元欣
《世界有色金属》
2024年第12期180-182,共3页
以精镉锭为原料,酸洗除去表面氧化膜,投入真空蒸馏炉中,通过模具设计,研究模具结构、蒸馏温度和真空度对蒸馏产出率的影响,找出5N镉片蒸馏关键影响因素,为真空蒸馏稳定制备5N高纯镉片提供技术依据。实验结果表明,当坩埚高度/内径比达到1...
以精镉锭为原料,酸洗除去表面氧化膜,投入真空蒸馏炉中,通过模具设计,研究模具结构、蒸馏温度和真空度对蒸馏产出率的影响,找出5N镉片蒸馏关键影响因素,为真空蒸馏稳定制备5N高纯镉片提供技术依据。实验结果表明,当坩埚高度/内径比达到1.667,蒸馏温度为470℃,真空系统压强为1×10^(-3)Pa时,真空蒸馏制备高纯镉片化学成分可控、蒸馏效果较好,蒸馏产出率可达到73%。
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关键词
真空蒸馏
高纯镉
片
制备
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职称材料
电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素
被引量:
7
2
作者
曹淑琴
陈杭亭
曾宪津
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第6期854-857,共4页
采用电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素。讨论了镉基体的谱线干扰,比较了镉基体产生的多原子离子的干扰程度,该干扰按CdH、CdO、CdO2 、CdAr、CdOH和CdOH2 顺序递减。研究了不同浓度镉基体对分析...
采用电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素。讨论了镉基体的谱线干扰,比较了镉基体产生的多原子离子的干扰程度,该干扰按CdH、CdO、CdO2 、CdAr、CdOH和CdOH2 顺序递减。研究了不同浓度镉基体对分析物信号的抑制或增强效应,镉的浓度大于0.25g·L- 1 时,对质量数小于100的分析物的信号强度产生抑制,而对质量数大于150 的分析物的信号强度产生增强,采用89Y和209 Bi作内标分别克服基体的抑制和增强效应。测定了高纯镉的As、Be、Co、Cu、Ga、Ge、Mn、Mo、Pb、Ni、Sr、Au、Tl、Th、V 和U 等16 个杂质元素,方法的检测限0.005~0.052 μg·L- 1 ,标准加入回收率82% ~108% 。
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关键词
ICP-MS
等离子体质谱
高纯镉
杂质元素
镉
测定
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职称材料
高纯碲和镉中痕量杂质元素的辉光放电质谱分析
被引量:
9
3
作者
荣百炼
胡赞东
+2 位作者
丛树仁
韩福忠
姬荣斌
《红外技术》
CSCD
北大核心
2010年第4期226-230,共5页
采用辉光放电质谱(GD-MS)对碲、镉原材料中锂、硼、钠、铝、硅、铁、铜、锌、镓、砷、银、金、铅、铀等62个杂质元素进行了测试,并与激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)所测的结果进行比较,对结果差异的潜在因素、个别元素含量异...
采用辉光放电质谱(GD-MS)对碲、镉原材料中锂、硼、钠、铝、硅、铁、铜、锌、镓、砷、银、金、铅、铀等62个杂质元素进行了测试,并与激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)所测的结果进行比较,对结果差异的潜在因素、个别元素含量异常偏大的原因进行了系统分析,着重论述VG9000辉光放电质谱仪的特点及痕量杂质分析优势。
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关键词
辉光放电质谱(GD-MS)
激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)
痕量杂质测定
高纯
碲和
镉
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职称材料
题名
真空蒸馏制备5N高纯镉片
1
作者
符世继
赵红梅
李俊仪
陈元欣
机构
云南驰宏锌锗股份有限公司
出处
《世界有色金属》
2024年第12期180-182,共3页
文摘
以精镉锭为原料,酸洗除去表面氧化膜,投入真空蒸馏炉中,通过模具设计,研究模具结构、蒸馏温度和真空度对蒸馏产出率的影响,找出5N镉片蒸馏关键影响因素,为真空蒸馏稳定制备5N高纯镉片提供技术依据。实验结果表明,当坩埚高度/内径比达到1.667,蒸馏温度为470℃,真空系统压强为1×10^(-3)Pa时,真空蒸馏制备高纯镉片化学成分可控、蒸馏效果较好,蒸馏产出率可达到73%。
关键词
真空蒸馏
高纯镉
片
制备
Keywords
vacuum distillation
high purity cadmium sheet
preparation
分类号
TF813 [冶金工程—有色金属冶金]
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职称材料
题名
电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素
被引量:
7
2
作者
曹淑琴
陈杭亭
曾宪津
机构
中国科学院长春应用化学研究所
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第6期854-857,共4页
基金
国家自然科学基金
国家教育部留学归国人员基金
文摘
采用电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素。讨论了镉基体的谱线干扰,比较了镉基体产生的多原子离子的干扰程度,该干扰按CdH、CdO、CdO2 、CdAr、CdOH和CdOH2 顺序递减。研究了不同浓度镉基体对分析物信号的抑制或增强效应,镉的浓度大于0.25g·L- 1 时,对质量数小于100的分析物的信号强度产生抑制,而对质量数大于150 的分析物的信号强度产生增强,采用89Y和209 Bi作内标分别克服基体的抑制和增强效应。测定了高纯镉的As、Be、Co、Cu、Ga、Ge、Mn、Mo、Pb、Ni、Sr、Au、Tl、Th、V 和U 等16 个杂质元素,方法的检测限0.005~0.052 μg·L- 1 ,标准加入回收率82% ~108% 。
关键词
ICP-MS
等离子体质谱
高纯镉
杂质元素
镉
测定
Keywords
Inductively coupled plasma mass spectrometry, High purity cadmium, Impurities
分类号
TG146.192 [金属学及工艺—金属材料]
下载PDF
职称材料
题名
高纯碲和镉中痕量杂质元素的辉光放电质谱分析
被引量:
9
3
作者
荣百炼
胡赞东
丛树仁
韩福忠
姬荣斌
机构
昆明物理研究所
出处
《红外技术》
CSCD
北大核心
2010年第4期226-230,共5页
文摘
采用辉光放电质谱(GD-MS)对碲、镉原材料中锂、硼、钠、铝、硅、铁、铜、锌、镓、砷、银、金、铅、铀等62个杂质元素进行了测试,并与激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)所测的结果进行比较,对结果差异的潜在因素、个别元素含量异常偏大的原因进行了系统分析,着重论述VG9000辉光放电质谱仪的特点及痕量杂质分析优势。
关键词
辉光放电质谱(GD-MS)
激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)
痕量杂质测定
高纯
碲和
镉
Keywords
glow discharge spectrometry (LA-ICP-MS), mass spectrometry (GD-MS), laser ablation inductive coupled plasma mass determination of trace impurity, high purity Te and Cd
分类号
TN215 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
真空蒸馏制备5N高纯镉片
符世继
赵红梅
李俊仪
陈元欣
《世界有色金属》
2024
0
下载PDF
职称材料
2
电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素
曹淑琴
陈杭亭
曾宪津
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999
7
下载PDF
职称材料
3
高纯碲和镉中痕量杂质元素的辉光放电质谱分析
荣百炼
胡赞东
丛树仁
韩福忠
姬荣斌
《红外技术》
CSCD
北大核心
2010
9
下载PDF
职称材料
已选择
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