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真空蒸馏制备5N高纯镉片
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作者 符世继 赵红梅 +1 位作者 李俊仪 陈元欣 《世界有色金属》 2024年第12期180-182,共3页
以精镉锭为原料,酸洗除去表面氧化膜,投入真空蒸馏炉中,通过模具设计,研究模具结构、蒸馏温度和真空度对蒸馏产出率的影响,找出5N镉片蒸馏关键影响因素,为真空蒸馏稳定制备5N高纯镉片提供技术依据。实验结果表明,当坩埚高度/内径比达到1... 以精镉锭为原料,酸洗除去表面氧化膜,投入真空蒸馏炉中,通过模具设计,研究模具结构、蒸馏温度和真空度对蒸馏产出率的影响,找出5N镉片蒸馏关键影响因素,为真空蒸馏稳定制备5N高纯镉片提供技术依据。实验结果表明,当坩埚高度/内径比达到1.667,蒸馏温度为470℃,真空系统压强为1×10^(-3)Pa时,真空蒸馏制备高纯镉片化学成分可控、蒸馏效果较好,蒸馏产出率可达到73%。 展开更多
关键词 真空蒸馏 高纯镉 制备
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电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素 被引量:7
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作者 曹淑琴 陈杭亭 曾宪津 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1999年第6期854-857,共4页
采用电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素。讨论了镉基体的谱线干扰,比较了镉基体产生的多原子离子的干扰程度,该干扰按CdH、CdO、CdO2 、CdAr、CdOH和CdOH2 顺序递减。研究了不同浓度镉基体对分析... 采用电感耦合等离子体质谱法测定高纯镉中的杂质元素。讨论了镉基体的谱线干扰,比较了镉基体产生的多原子离子的干扰程度,该干扰按CdH、CdO、CdO2 、CdAr、CdOH和CdOH2 顺序递减。研究了不同浓度镉基体对分析物信号的抑制或增强效应,镉的浓度大于0.25g·L- 1 时,对质量数小于100的分析物的信号强度产生抑制,而对质量数大于150 的分析物的信号强度产生增强,采用89Y和209 Bi作内标分别克服基体的抑制和增强效应。测定了高纯镉的As、Be、Co、Cu、Ga、Ge、Mn、Mo、Pb、Ni、Sr、Au、Tl、Th、V 和U 等16 个杂质元素,方法的检测限0.005~0.052 μg·L- 1 ,标准加入回收率82% ~108% 。 展开更多
关键词 ICP-MS 等离子体质谱 高纯镉 杂质元素 测定
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高纯碲和镉中痕量杂质元素的辉光放电质谱分析 被引量:9
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作者 荣百炼 胡赞东 +2 位作者 丛树仁 韩福忠 姬荣斌 《红外技术》 CSCD 北大核心 2010年第4期226-230,共5页
采用辉光放电质谱(GD-MS)对碲、镉原材料中锂、硼、钠、铝、硅、铁、铜、锌、镓、砷、银、金、铅、铀等62个杂质元素进行了测试,并与激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)所测的结果进行比较,对结果差异的潜在因素、个别元素含量异... 采用辉光放电质谱(GD-MS)对碲、镉原材料中锂、硼、钠、铝、硅、铁、铜、锌、镓、砷、银、金、铅、铀等62个杂质元素进行了测试,并与激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)所测的结果进行比较,对结果差异的潜在因素、个别元素含量异常偏大的原因进行了系统分析,着重论述VG9000辉光放电质谱仪的特点及痕量杂质分析优势。 展开更多
关键词 辉光放电质谱(GD-MS) 激光烧蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS) 痕量杂质测定 高纯碲和
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