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膜去溶-ICP-MS法测定高纯Eu_2O_3中14种痕量稀土杂质
被引量:
4
1
作者
韩国军
伍星
童坚
《分析试验室》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第11期91-96,共6页
研究了不需基体分离,膜去溶-ICP-MS法直接测定高纯Eu2O3中的14种痕量稀土杂质的分析方法。讨论了Eu基体产生的多原子离子对被测元素的质谱干扰。使用膜去溶后,待测元素灵敏度提高3倍左右,EuO/Eu产率从去溶前的0.016%降低为0.0007%。建立...
研究了不需基体分离,膜去溶-ICP-MS法直接测定高纯Eu2O3中的14种痕量稀土杂质的分析方法。讨论了Eu基体产生的多原子离子对被测元素的质谱干扰。使用膜去溶后,待测元素灵敏度提高3倍左右,EuO/Eu产率从去溶前的0.016%降低为0.0007%。建立了Tm的数学校正方程,通过膜去溶结合数学校正可将Eu基体对Tm干扰完全消除。14种稀土杂质的检出限和(∑RE)为70 ng/L,测定下限和(∑RE)为0.54μg/g。对6N高纯Eu2O3样品进行了分析,样品回收率为96%-109%,RSD小于10%。所建立的方法对Eu2O3标准样品的测定结果与国家标准方法测定结果相一致。
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关键词
高纯eu2o3
膜去溶
数学校正
ICP-MS
多原子离子干扰
下载PDF
职称材料
ICP-MS/MS直接测定高纯Eu_2O_3中超痕量的铥、砷、硅
被引量:
10
2
作者
徐芝亮
吴海燕
+1 位作者
张智怡
刘永林
《中国稀土学报》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第4期453-459,共7页
运用三重串联电感耦合等离子质谱(ICP-MS/MS)仪直接测定高纯Eu_2O_3中超痕量的Tm,As和Si。采用H_2的原位质量法和O_2质量转移法,有效克服了基体对待测元素的干扰。通过优化仪器参数得到Tm,As和Si的背景等效浓度分别为0.0005763,0.08435,...
运用三重串联电感耦合等离子质谱(ICP-MS/MS)仪直接测定高纯Eu_2O_3中超痕量的Tm,As和Si。采用H_2的原位质量法和O_2质量转移法,有效克服了基体对待测元素的干扰。通过优化仪器参数得到Tm,As和Si的背景等效浓度分别为0.0005763,0.08435,8.268μg·L^(-1)。在选定条件下,样品加标回收率为95.74%~103.82%,相对标准偏差(RSD)为0.22%~4.38%。本方法简单实用,能够满足纯度99.999%以上的高纯Eu_2O_3中杂质元素的快速测定。
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关键词
三重串联电感耦合等离子质谱(ICP-MS/MS)
高纯eu2o3
铥、砷、硅
干扰
原文传递
题名
膜去溶-ICP-MS法测定高纯Eu_2O_3中14种痕量稀土杂质
被引量:
4
1
作者
韩国军
伍星
童坚
机构
北京有色金属研究总院
出处
《分析试验室》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第11期91-96,共6页
基金
北京有色金属研究总院青年基金资助
文摘
研究了不需基体分离,膜去溶-ICP-MS法直接测定高纯Eu2O3中的14种痕量稀土杂质的分析方法。讨论了Eu基体产生的多原子离子对被测元素的质谱干扰。使用膜去溶后,待测元素灵敏度提高3倍左右,EuO/Eu产率从去溶前的0.016%降低为0.0007%。建立了Tm的数学校正方程,通过膜去溶结合数学校正可将Eu基体对Tm干扰完全消除。14种稀土杂质的检出限和(∑RE)为70 ng/L,测定下限和(∑RE)为0.54μg/g。对6N高纯Eu2O3样品进行了分析,样品回收率为96%-109%,RSD小于10%。所建立的方法对Eu2O3标准样品的测定结果与国家标准方法测定结果相一致。
关键词
高纯eu2o3
膜去溶
数学校正
ICP-MS
多原子离子干扰
Keywords
High-purity
eu
2
o
3
Membrane des
o
lvati
o
n
Algebraic c
o
rrecti
o
n equati
o
ns
ICP-MS
P
o
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o
mic i
o
n interference
分类号
O557.6 [理学—热学与物质分子运动论]
下载PDF
职称材料
题名
ICP-MS/MS直接测定高纯Eu_2O_3中超痕量的铥、砷、硅
被引量:
10
2
作者
徐芝亮
吴海燕
张智怡
刘永林
机构
江西省分析测试研究所
江西省农业科学院
出处
《中国稀土学报》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第4期453-459,共7页
基金
江西省科技计划项目(20133BBG70098)资助
文摘
运用三重串联电感耦合等离子质谱(ICP-MS/MS)仪直接测定高纯Eu_2O_3中超痕量的Tm,As和Si。采用H_2的原位质量法和O_2质量转移法,有效克服了基体对待测元素的干扰。通过优化仪器参数得到Tm,As和Si的背景等效浓度分别为0.0005763,0.08435,8.268μg·L^(-1)。在选定条件下,样品加标回收率为95.74%~103.82%,相对标准偏差(RSD)为0.22%~4.38%。本方法简单实用,能够满足纯度99.999%以上的高纯Eu_2O_3中杂质元素的快速测定。
关键词
三重串联电感耦合等离子质谱(ICP-MS/MS)
高纯eu2o3
铥、砷、硅
干扰
Keywords
triple quadrup
o
le inductively c
o
upled-plasma mass spectr
o
metry
high purity ne
o
dymium
Tm
As
Si
Interference
分类号
O657.63 [理学—分析化学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
膜去溶-ICP-MS法测定高纯Eu_2O_3中14种痕量稀土杂质
韩国军
伍星
童坚
《分析试验室》
CAS
CSCD
北大核心
2009
4
下载PDF
职称材料
2
ICP-MS/MS直接测定高纯Eu_2O_3中超痕量的铥、砷、硅
徐芝亮
吴海燕
张智怡
刘永林
《中国稀土学报》
CAS
CSCD
北大核心
2016
10
原文传递
已选择
0
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参考文献
引证文献
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