高能氩离子在聚苯乙烯中的电子能损效应研究

用１．４ＧｅＶ氢离子对多层堆叠的厚约５３ｍ的聚苯乙烯薄膜在室温和真空条件下进行了辐照；对辐照后的样品进行了从红外到紫外的光吸收测量．测量结果显示，材料经高能红离子辐照后发生化学降解，降解过程强烈依赖于电子能损；在能量沉积密度很高的径迹芯中，分子主链和苯环均遭到破坏；在电子能损高于 ０． ７７ｋｅＶ／ｎｍ时有炔基产生．

35MeV/uAr离子辐照聚酯膜引起的效应研究

采用多种手段研究了 35Me V/u的 Ar离子辐照聚酯 (PET)膜产生的微观结构变化 .结果表明 ,辐照使聚酯的化学键断裂并产生了炔端不饱和基团和自由基 .断键主要发生在乙二醇残留物、苯环的对位和酯的 C— O键上 .随着吸收剂量的增加 ,材料的结晶度逐渐降低 ,由原始的41 .7%减至最高辐照量时的 1 5.0 % .研究发现 ,聚脂的非晶化转变截面与电子能损呈线性关系 ;断键和非晶化效应主要取决于样品的吸收剂量 ,并存在一个约 4.0

DCP-AES法测定钴中杂质

本试验以高能氩直流等离子体(DCP)为激发光源,在SpectroSpan V中阶梯光栅光谱仪上建立了测定Co中Fe、Mn、Ni、Ca、Na等杂质的方法。方法的准确度高,精密度好。利用测得的Cu标准溶液的强度值来调节光谱仪入射狭缝在等离子体激发区内的位置。考查了等离子体激发区位置和等离子体漂移对测定结果的影响。

红外光吸收研究35MeV/u Ar离子辐照半晶质聚酯膜引起的效应

３５ＭｅＶ／ｕ Ａｒ离子在室温下辐照了多层堆叠的半晶质聚酯膜，采用傅立叶转换的红外光吸收技术分析和研究了由辐照引起的化学键断裂及其对离子剂量、离子在样品中的平均电子能量损失和吸收剂量的依赖性．结果表明，辐照导致聚酯膜中发生了明显的化学键断裂，断键过程主要发生在反式构型的乙二醇残留物和苯环的对位上，苯环的基本结构在辐照中变化较小．断键不仅强烈地依赖于离子的照射剂量，而且还跟样品中电子能量沉积密切相关，明显的断键发生在４．０ＭＧｙ以上的吸收剂量．