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高能质子辐照缺陷对晶闸管开关特性的影响
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作者 廖志君 林理彬 邹睿 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第z1期37-40,共4页
讨论了高能质子辐照产生缺陷类型及其对晶闸管开关特性的影响。不同能量的单束质子辐照和双束质子辐照晶闸管 ,提高了其开关特性。由红外吸收光谱得知 ,影响晶闸管通态压降的主要因素是单空位缺陷类型。
关键词 高能质子辐照 晶闸管 红外光谱
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