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高温外延炉气体压力控制系统的实现 被引量:2
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作者 毛朝斌 高桑田 +2 位作者 盛飞龙 仇礼钦 王鑫 《电子工业专用设备》 2022年第5期1-4,31,共5页
针对碳化硅外延工艺过程中压力控制范围大、控制精度高的要求,以及受到温度、气流变化大的影响,介绍了一种用于碳化硅高温外延工艺的高温外延炉腔内压力控制系统。通过分析碳化硅外延炉压力控制系统,提出了模糊自适应PID控制算法。在国... 针对碳化硅外延工艺过程中压力控制范围大、控制精度高的要求,以及受到温度、气流变化大的影响,介绍了一种用于碳化硅高温外延工艺的高温外延炉腔内压力控制系统。通过分析碳化硅外延炉压力控制系统,提出了模糊自适应PID控制算法。在国产碳化硅外延设备上进行验证,实验结果表明压力控制系统具有较快的响应速度和较低的超调量,效果良好,能满足碳化硅高速外延需求。 展开更多
关键词 碳化硅 高速外延 压力控制 比例积分微分
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Epitaxy of SiGe HBT Structure by High Vacuum/Rapid Thermal Processing/Chemical Vapor Deposition
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作者 贾宏勇 林惠旺 +1 位作者 陈培毅 钱佩信 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第3期251-255,共5页
The strained SiGe material has been grown by using the newly developed High Vacuum/Rapid Thermal Processing/Chemical Vapor Deposition (HV/RTP/CVD) system.Device quality material is grown by handling process after car... The strained SiGe material has been grown by using the newly developed High Vacuum/Rapid Thermal Processing/Chemical Vapor Deposition (HV/RTP/CVD) system.Device quality material is grown by handling process after careful design. The Ge fraction varies up to 0 25, and the n and p type doping is well controlled,which are both adapted to the fabrication of Heterojunction Bipolar Transistors (HBT). The SiGe HBT structure, namely n Si/i p + i SiGe/n Si structure, has been investigated, with which, the HBTs are fabricated and show good performance. The new system has been proved potential and practicable. 展开更多
关键词 CVD SIGE HBT
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