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高速逻辑分析仪探测
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作者 Brock J.LaMeres 《电子质量》 2004年第7期9-11,共3页
本文考察了在探测高速数字系统时设计人员遇到的部分常见问题,讨论了探头的负荷模型及 探测位置的影响。最后,本文讨论了把探头连接到高速系统最常用的技术短线探测和阻尼电阻器探测。
关键词 高速逻辑分析仪 探头 负荷模型 阻尼电阻器 短线探测
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