基于局部放电测试设备的高速ADC电源设计

在设计局部放电测试设备的过程中,根据ADC芯片生产厂家要求提供的线性电源,存在极其低下的效率问题。并且在信号处理器高速外围接口的影响下模拟信号不可避免的依然容易受到数字信号的影响,从而产生数字干扰误差。本文通过多次试验研究,总结出来了一些先进的开关电源方案,既大大提升了电源效率,又增加了局部放电测试设备的精确度。