高长径比探针在高分子纳米纤维膜原子力显微镜扫描上的应用

原子力显微镜技术是用于表征表面纳米级形貌的一种重要手段,对于纳米纤维膜等聚合物表面分析具有一定的优势。本文详细叙述了原子力显微镜的基本原理及操作步骤,研究了扫描模式、测试参数、探针类型等因素对较大粗糙度的纳米纤维膜测试结果的影响。结果表明,高长径比探针比常规探针更能真实的反应表面的形貌信息。