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高长径比探针在高分子纳米纤维膜原子力显微镜扫描上的应用
1
作者
严定策
韩超
+2 位作者
丁雨葵
宋武林
程红
《分析仪器》
CAS
2023年第5期44-47,共4页
原子力显微镜技术是用于表征表面纳米级形貌的一种重要手段,对于纳米纤维膜等聚合物表面分析具有一定的优势。本文详细叙述了原子力显微镜的基本原理及操作步骤,研究了扫描模式、测试参数、探针类型等因素对较大粗糙度的纳米纤维膜测试...
原子力显微镜技术是用于表征表面纳米级形貌的一种重要手段,对于纳米纤维膜等聚合物表面分析具有一定的优势。本文详细叙述了原子力显微镜的基本原理及操作步骤,研究了扫描模式、测试参数、探针类型等因素对较大粗糙度的纳米纤维膜测试结果的影响。结果表明,高长径比探针比常规探针更能真实的反应表面的形貌信息。
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关键词
原子力显微镜
纳米纤维膜
表面粗糙度分析
高长径探针
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职称材料
题名
高长径比探针在高分子纳米纤维膜原子力显微镜扫描上的应用
1
作者
严定策
韩超
丁雨葵
宋武林
程红
机构
华中科技大学分析测试中心
华中科技大学化学与化工学院
出处
《分析仪器》
CAS
2023年第5期44-47,共4页
文摘
原子力显微镜技术是用于表征表面纳米级形貌的一种重要手段,对于纳米纤维膜等聚合物表面分析具有一定的优势。本文详细叙述了原子力显微镜的基本原理及操作步骤,研究了扫描模式、测试参数、探针类型等因素对较大粗糙度的纳米纤维膜测试结果的影响。结果表明,高长径比探针比常规探针更能真实的反应表面的形貌信息。
关键词
原子力显微镜
纳米纤维膜
表面粗糙度分析
高长径探针
Keywords
Atomic force microscopy
Nanofibrous membranes
Surface roughness analysis
High aspect ratio probe
分类号
TH742 [机械工程—光学工程]
TB383.2 [一般工业技术—材料科学与工程]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
高长径比探针在高分子纳米纤维膜原子力显微镜扫描上的应用
严定策
韩超
丁雨葵
宋武林
程红
《分析仪器》
CAS
2023
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