高集成度激光列阵的外腔工作参数稳定技术

匹配高系统集成度的半导体二极管激光列阵(DLA)多发光单元特性的高系统集成度外腔工作参数稳定技术,通过拾取外腔形变传感器的响应等运行状态监控参数,经映射处理等处理后,获取控制参数,适时调整基超模运行所需腔体参数等,反馈控制,使DLA稳定运行于基超模。求得系统控制参数与外腔等参数之间的关系,以及建立相应鲁棒控制模型,是随DLA及其应用具体需求设计控制系统的指导基础,实验表明,基于此优化设计的高密外腔形变传感控制系统,可精细传感控制外腔形变,稳定外腔工作参数,改善高集成度激光列阵系统稳定运行于基超模可用性和系统可靠性。

倍频激光直接驱动透镜列阵均匀照明系统的优化设计与实验考核

在目前“神光”-Ⅱ器件尚不具备其它更为先进的束匀滑手段的前提下，2004年对透镜列阵束匀滑系统作了进一步的优化设计，以改善和提高靶面光强均匀性。在进行大量计算和比对的基础上，设计了如表1所列的3套新的列阵透镜参数。3套均匀化系统的焦斑尺寸大小基本一样，这是因为实验对此有一定的要求，但对冲击波平面性有很大影响的衍射调制周期有较大的差别，这可能成为决定冲击波平面性好坏的关键所在。

减小列阵光学系统小尺度不均匀性的方法研究

应用衍射积分理论，通过详细的数值计算分析，讨论了用于减小列阵光学系统小尺度不均匀性的几种技术方法。所得结果与实验相符，对均匀照明光学系统的设计有参考意义。

一种新型的列阵反射镜调整架

针对组束激光系统主放大器而设计的一种新型的列阵反射镜调整架，克服了多个调整架结构松散的缺点，满足了多路激光束之间间距较小的特殊要求；同时采用了柔性铰链机构及步进电机传动中联轴驱动一体机构，使整套系统具有调整精度高、稳定性好等特点。

用楔角偏差改善正交光楔列阵大尺度的辐照均匀性

用楔角偏差的方法能有效的改善正交光楔列阵系统(SWA)的大尺度辐照均匀性. 基于标量衍射积分方法和旁轴矩阵光学方法,进行了详细的分析,给出焦斑光强分布特性的理论计算和实验结果,并给出了最优设计参数.

可获得连续可调均匀矩形焦斑的光学系统

设计了正交光楔列阵和正交柱透镜组合的光学系统,可获得焦斑尺寸连续可调的强度平顶分布的无旁瓣的边缘陡峭的矩形光斑,以满足特定物理实验和应用需要.根据标量衍射积分和旁轴矩阵光学的方法,详细分析了焦斑上光强分布特性,给出焦斑光强分布特性的理论计算和系统的优化设计参数.

电光与红外系统:技术和应用

一、探测器技术 1．集成焦平面列阵技术在激光微型卫星网络中的使用（Shlomi Arnon）

光楔列阵线聚焦系统的研制

报道七单元光楔列阵线聚焦系统的设计原理和焦线特性的测试结果。

二维正交光楔列阵大焦斑均匀照明光学系统的实验研究

提出了一种二维正交光楔列阵均匀照明系统.可将非均匀分布激光光斑变换为尺寸连续可调分布均匀的方形光斑.报道了该系统的设计原理及实验研究结果.并对用于小焦斑均匀照明的可行性进行了论证.

寿命测试和老化实验系统

Mindready Solutions公司研发了低成本台式大功率激光器寿命测试和老化实验系统。据该公司报道，这个系统为小批量生产和研究提供了半抽入（2个模块）、自包含的单元。基于像全部大功率单元一样的模块，用户可以在初期的测试中以一个小规模的老化或者寿命测试开始，然后再开启全部系统，并不需要重置模块。Mindready现已研制出了用于测试激光器列阵老化和寿命实验的第2代产品。

凸柱面透镜列阵线聚焦系统

主要描述了柱面透镜列阵聚焦系统的原理及结构，分析了凹柱面透镜列阵线聚焦系统中非球面透镜损坏的原因，介绍了凸柱面透镜列阵线聚焦系统的设计原则。

焦线可控的光楔列阵均匀线聚焦系统

研制了一种可连续改变焦线宽纵比的光楔列阵均匀线聚焦系统。线长变化后，焦线宽度、光强分布均匀性、靶面位置仍然不变。实验研究与理论分析结果一致。

照明光学及设备

T■23.O1 98020738二维正交光楔列阵大焦斑均匀照明光学系统的实验研究=Experimental study of two-dimensionalorthogonal segmented wedge array optical systemapplied to uniform illumination of large focalspot[刊,中]/郑建洲,蔡邦维,吕百达,翟群(四川大学激光物理与化学研究所.四川,成都(610064))

光的干涉与衍射

O436.1 99042155二元位相校正技术在相控列阵光学系统中的应用=Binaryphase corrector for phased array system[刊,中]/杨李茗(浙江大学现代光学仪器国家重点实验室.浙江,杭州(310027)),许乔(成都精密光学研究中心.四川,成都(610041))∥光学学报.—1998,18(8).—1138-1140提出一种使用二元光学器件实现位相校正的新方法。在子孔径拼接的相控列阵光学系统中,采用二元光学器件一二元位相校正板对子孔径拼接后产生的残留波像差进行校正,既达到位相校正技术要求,又大大简化系统结构并减小了系统的尺寸和重量。

红外技术及器件

TN213 97063897碲镉汞晶片少数载流子寿命面分布的自动测试技术=Automatic measurement technology for thearea distribution of the minority carrier lifetimeof HgCdTe wafer[刊,中]/龚海梅,李言谨,胡晓宁,靳秀芬,宣荣伟,朱龙源。