应用红外碳硫仪测定碳化硅中S含量

介绍了应用高频红外碳硫仪测定碳化硅中的S含量。探讨了锡粒、纯铁、钨粒作为助熔剂的用量,并以生产用碳化硅经定值作为校准样品校正仪器,本方法的相对标准偏差RSD<1%(n=6)。