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高k绝缘层研究动态 被引量:5
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作者 翁寿松 《微纳电子技术》 CAS 2005年第5期220-223,248,共5页
介绍了ITRS2003对高k绝缘层材料的要求、高k绝缘层材料必须满足的要求、高k绝缘材料(尤其是HfSiON材料)研究成果以及研究中存在的问题。
关键词 高k绝缘层 栅结构 栅介质 HfSiON薄膜
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300mm晶圆对半导体设备的挑战 被引量:3
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作者 翁寿松 《电子工业专用设备》 2003年第2期11-14,共4页
300mm晶圆生产线必须采用新标准、新技术、新流程、新设备、新布局、新厂房和新设施等。因此,300mm晶圆向半导体设备提出了挑战。
关键词 300MM晶圆 半导体设备 生产线 光刻 高k绝缘层 应变硅技术 铜互连技术
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