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镜面无损检测系统 被引量:1
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作者 尹燕萍 罗庆媛 杨晓波 《半导体光电》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第6期425-427,共3页
介绍了基于“魔镜”技术原理研制的镜面无损检测系统。该检测系统已应用于Si片和其他半导体抛光晶片的质量检测 ,且其用途已延伸到与超平镜面有关的各种技术领域 ,如硬盘、光盘、玻璃衬底等。
关键词 魔镜技术 无损检测 半导体晶片
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